| 摘要 | 第1-20页 |
| Abstract | 第20-24页 |
| 符号说明 | 第24-25页 |
| 第一章 引言 | 第25-33页 |
| ·粒子物理 | 第25-27页 |
| ·粒子物理实验 | 第27-29页 |
| ·实验数据处理软件 | 第29-30页 |
| ·选题背景及论文结构 | 第30-33页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机Ⅱ及北京谱仪Ⅲ | 第33-45页 |
| ·北京正负电子对撞机-BEPC Ⅱ | 第33页 |
| ·北京谱仪Ⅲ的物理目标 | 第33-34页 |
| ·北京谱仪Ⅲ-BES Ⅲ | 第34-39页 |
| ·束流管 | 第36页 |
| ·主漂移室 | 第36页 |
| ·飞行时间计数器 | 第36-37页 |
| ·电磁量能器 | 第37-38页 |
| ·超导磁体 | 第38页 |
| ·μ子鉴别器 | 第38页 |
| ·触发判选系统 | 第38-39页 |
| ·在线数据获取系统 | 第39页 |
| ·北京谱仪Ⅲ离线软件系统 | 第39-45页 |
| ·离线数据处理计算环境 | 第40-41页 |
| ·BES Ⅲ离线软件系统框架(BOSS) | 第41-42页 |
| ·BES Ⅲ探测器模拟软件-BOOST | 第42-43页 |
| ·BES Ⅲ离线重建软件 | 第43页 |
| ·BES Ⅲ物理分析、事例显示软件及其他 | 第43-45页 |
| 第三章 BES Ⅲ主漂移室 | 第45-61页 |
| ·BES Ⅲ主漂移室的设计 | 第45-50页 |
| ·单元设计 | 第46-47页 |
| ·丝层安排 | 第47-48页 |
| ·工作气体 | 第48-49页 |
| ·机械设计 | 第49页 |
| ·预期性能 | 第49-50页 |
| ·BES Ⅲ坐标系及符号约定 | 第50-51页 |
| ·主漂移室重建径迹参数 | 第51-52页 |
| ·主漂移室事例模型 | 第52-53页 |
| ·主漂移室几何服务 | 第53页 |
| ·主漂移室刻度和校准 | 第53-55页 |
| ·主漂移室离线重建软件 | 第55-61页 |
| ·主漂移室快速重建 | 第56-57页 |
| ·事例起始时间重建 | 第57-58页 |
| ·主漂移室径迹寻迹 | 第58页 |
| ·基于Kalman滤波的径迹拟合 | 第58-59页 |
| ·径迹外推 | 第59-61页 |
| 第四章 主漂移室径迹重建算法MdcPatRec | 第61-83页 |
| ·漂移室带电径迹重建原理 | 第61-62页 |
| ·基于模式识别的径迹重建算法 | 第62-73页 |
| ·模式字典 | 第63-64页 |
| ·径迹段寻找 | 第64-68页 |
| ·径迹段连接 | 第68-71页 |
| ·径迹段拟合 | 第71-72页 |
| ·径迹拟合 | 第72-73页 |
| ·击中判别 | 第73页 |
| ·MdcPatRec重建软件实现 | 第73-79页 |
| ·软件模块及基类设计 | 第73-74页 |
| ·径迹重建数据流程 | 第74-75页 |
| ·事例数据模型 | 第75-76页 |
| ·重建算法流程 | 第76-78页 |
| ·可调参数与控制变量 | 第78-79页 |
| ·次级顶点径迹重建算法MdcxReco简介 | 第79-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第五章 重建性能研究 | 第83-103页 |
| ·重建速度 | 第83-85页 |
| ·重建效率 | 第85-86页 |
| ·重建径迹参数 | 第86-91页 |
| ·螺旋线五参数分辨 | 第88页 |
| ·径迹参数分辨与横动量的关系 | 第88-89页 |
| ·径迹参数间的相关性 | 第89-90页 |
| ·其它径迹参数 | 第90-91页 |
| ·动量分辨 | 第91-93页 |
| ·空间分辨 | 第93页 |
| ·不同极角下的重建性能 | 第93-94页 |
| ·噪声对重建的影响 | 第94-98页 |
| ·噪声的模拟 | 第94-95页 |
| ·不同噪声水平下的重建性能 | 第95页 |
| ·噪声对重建击中数的影响 | 第95-98页 |
| ·单元效率对重建的影响 | 第98-99页 |
| ·各种因素对重建的影响的比较 | 第99-101页 |
| ·本章小结 | 第101-103页 |
| 第六章 物理结果检查 | 第103-115页 |
| ·ψ(2S)→π~+π~-J/ψ,J/ψ→l~+l~-的性能检查 | 第103-108页 |
| ·软π的寻迹效率 | 第103-105页 |
| ·动量重建性能 | 第105页 |
| ·位置重建精度 | 第105-106页 |
| ·软π的粒子鉴别效率 | 第106-108页 |
| ·次级顶点径迹的重建性能检查 | 第108-112页 |
| ·次级顶点的重建 | 第108页 |
| ·K_s~0→π~+π~- | 第108-111页 |
| ·(?)~-→∧π~-，∧→pπ~- | 第111-112页 |
| ·本章小结 | 第112-115页 |
| 第七章 总结和展望 | 第115-117页 |
| 参考文献 | 第117-121页 |
| 致谢 | 第121-123页 |
| 科研成果 | 第123-138页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第138页 |