第一章 研究背景 | 第1-29页 |
1.1. 微波遥感器的基本原理和分类 | 第11-14页 |
1.2. 雷达高度计的发展状况 | 第14-19页 |
1.3. 合成孔径技术的发展状况 | 第19-21页 |
1.4. 干涉成像技术的发展状况 | 第21-26页 |
1.5. 三种技术的特点分析与比较 | 第26-27页 |
1.6. 成像高度计(CIALT)及研究重点 | 第27-29页 |
1.6.1. 成像高度计简介 | 第27页 |
1.6.2. CIALT的主要特点 | 第27-28页 |
1.6.3. 本文的研究重点 | 第28-29页 |
第二章 通用型高度计回波模型 | 第29-39页 |
2.1. BROWN模型的原理与局限性 | 第29-30页 |
2.2. 通用型高度计回波模型的建立 | 第30-37页 |
2.2.1. 点目标回波响应 | 第31-32页 |
2.2.2. 单一类型目标的平坦面回波响应 | 第32-35页 |
2.2.3. 复合类型目标的平坦面回波响应 | 第35-36页 |
2.2.4. 起伏目标面回波响应 | 第36-37页 |
2.3. 通用型回波模型的特点分析及应用 | 第37-38页 |
2.4. 结论 | 第38-39页 |
第三章 低次模低阶距(LMM)鲁棒性跟踪算法 | 第39-56页 |
3.1. 典型高度计跟踪算法特点分析 | 第39-41页 |
3.2. 鲁棒性跟踪算法的设计思想 | 第41-42页 |
3.3. OCOG跟踪算法 | 第42-44页 |
3.4. LMM鲁棒性跟踪算法的实现方法与分析 | 第44-46页 |
3.4.1. 回波跟踪点 | 第44页 |
3.4.2. 矩形重心 | 第44-45页 |
3.4.3. 等效矩形宽度 | 第45-46页 |
3.5. LMM鲁棒性算法的性能分析 | 第46-54页 |
3.5.1. LMM鲁棒性跟踪算法的性能指标 | 第46-47页 |
3.5.2. 鲁棒性估计的均值与方差 | 第47-48页 |
3.5.3. 仿真实验 | 第48-54页 |
3.5.4. 实验结果分析 | 第54页 |
3.6. 结论 | 第54-56页 |
第四章 高精度高度计跟踪算法 | 第56-64页 |
4.1. 精确高度计回波模型 | 第56-57页 |
4.1.1. 参量定义 | 第56-57页 |
4.1.2. 精确回波模型 | 第57页 |
4.2. 最小均方差波形拟合法 | 第57-60页 |
4.2.1. 算法的基本原理 | 第57-58页 |
4.2.2. 算法的具体实现 | 第58-59页 |
4.2.3. 算法的性能分析 | 第59-60页 |
4.3. 最大似然估计法 | 第60-63页 |
4.3.1. 算法的基本原理和性质 | 第60-61页 |
4.3.2. 雷达杂波分布模型 | 第61-62页 |
4.3.3. 算法的具体实现 | 第62页 |
4.3.4. 算法的性能分析 | 第62-63页 |
4.4. 结论 | 第63-64页 |
第五章 自适应性高度计跟踪系统设计 | 第64-68页 |
5.1. 跟踪系统的基本工作原理 | 第64页 |
5.2. 预测器的设计方案 | 第64-67页 |
5.2.1. 预测器的功能和基本原理 | 第64页 |
5.2.2. α-β滤波器设计 | 第64-66页 |
5.2.3. 插值器设计 | 第66页 |
5.2.4. 预测器信号跟踪仿真实验 | 第66-67页 |
5.3. 高度计自适应跟踪系统的原理框图 | 第67-68页 |
第六章 CIALT合成孔径处理中的误差校正与成像方案 | 第68-95页 |
6.1. 合成孔径的基本原理 | 第68-69页 |
6.2. 合成孔径处理的基本表达形式 | 第69-70页 |
6.3. 合成孔径成像的基本处理过程 | 第70-72页 |
6.4. 误差分类与分析 | 第72-76页 |
6.4.1 距离徒动误差 | 第72页 |
6.4.2. 图象斑纹噪声误差 | 第72页 |
6.4.3. 运动误差 | 第72-76页 |
6.5. 误差校正技术 | 第76-83页 |
6.5.1. 距离徒动校正技术 | 第76-78页 |
6.5.2. 图象斑纹噪声误差校正技术 | 第78-80页 |
6.5.3. 运动误差校正技术 | 第80-83页 |
6.6. 合成孔径误差补偿及二维成像方案流程图 | 第83-85页 |
6.7. 校正方案仿真实验与结果分析 | 第85-94页 |
6.7.1. 仿真目的和环境设置 | 第85页 |
6.7.2. 仿真实验结果 | 第85-94页 |
6.8. 结论 | 第94-95页 |
第七章 干涉成像技术研究 | 第95-109页 |
7.1. 高度计与合成孔径技术的局限性 | 第95-96页 |
7.1.1. 高度计的局限性 | 第95页 |
7.1.2. 合成孔径技术的局限性 | 第95-96页 |
7.2. 干涉成像的原理 | 第96-99页 |
7.2.1. 干涉成像的基本过程 | 第96-97页 |
7.2.2. 点目标干涉成像 | 第97-98页 |
7.2.3. 分布目标干涉成像 | 第98-99页 |
7.3. 干涉成像的高程灵敏度分析 | 第99页 |
7.4. 干涉成像的基本工作模式 | 第99页 |
7.5. 干涉成像的关键环节 | 第99-100页 |
7.6. 干涉图象配准 | 第100-102页 |
7.6.1. 图象配准的定义 | 第100页 |
7.6.2. 图象配准的基本方法 | 第100-102页 |
7.7. 相位解去模糊 | 第102-106页 |
7.7.1. 干涉相位的模糊问题 | 第102页 |
7.7.2. 相位差的最大似然估计 | 第102-104页 |
7.7.3. 相位解缠绕 | 第104-106页 |
7.8. 相位解缠绕仿真实验与结果分析 | 第106-108页 |
7.9. 结论 | 第108-109页 |
附录(1) | 第109-112页 |
参考文献 | 第112-119页 |
发表文章 | 第119-120页 |
致谢 | 第120页 |