| 第一章 绪论 | 第1-15页 |
| 1．1 研究电压凹陷和短时间断的意义 | 第7-9页 |
| 1．1．1 现代电能质量问题的提出 | 第7-8页 |
| 1．1．2 电压凹陷和短时间断问题的提出 | 第8-9页 |
| 1．2 国内外在该领域的研究现状 | 第9-13页 |
| 1．2．1 电压凹陷的研究现状 | 第9-12页 |
| 1．2．2 电能质量对配电系统可靠性影响的研究现状 | 第12-13页 |
| 1．3 本论文所研究的主要内容 | 第13-15页 |
| 第二章 短时间断、电压凹陷及凹陷域的分析 | 第15-35页 |
| 2．1 短时电压间断的基本分析 | 第15-17页 |
| 2．1．1 短时电压间断的定义 | 第15页 |
| 2．1．2 短时电压间断的起因 | 第15-16页 |
| 2．1．3 关于短时电压间断的国际标准 | 第16页 |
| 2．1．4 短时电压间断对设备的影响 | 第16-17页 |
| 2．2 电压凹陷的基本分析 | 第17-24页 |
| 2．2．1 电压凹陷的定义 | 第17页 |
| 2．2．2 电压凹陷的起因 | 第17-19页 |
| 2．2．3 影响电压凹陷特征量的因素 | 第19-20页 |
| 2．2．4 电压凹陷三大特征量的描述 | 第20-22页 |
| 2．2．5 设备对电压凹陷的敏感度 | 第22-24页 |
| 2．3 电压凹陷域的分析 | 第24-35页 |
| 2．3．1 临界距离法 | 第24-27页 |
| 2．3．1．1 故障点位于配电系统变压器前 | 第25-26页 |
| 2．3．1．2 故障点位于配电系统变压器后 | 第26-27页 |
| 2．3．2 故障点法 | 第27-31页 |
| 2．3．2．1 故障点的选取 | 第28-29页 |
| 2．3．2．2 故障点之间的距离 | 第29-30页 |
| 2．3．2．3 凹陷域的细化 | 第30-31页 |
| 2．3．3 影响凹陷域的因素 | 第31-33页 |
| 2．3．4 小结 | 第33-35页 |
| 第三章 配电系统可靠性分析 | 第35-46页 |
| 3．1 引言 | 第35-36页 |
| 3．2 研究方法 | 第36-37页 |
| 3．3 供电质量对配电系统可靠性的影响 | 第37-41页 |
| 3．3．1 负荷的敏感程度 | 第38-39页 |
| 3．3．2 CBEMA曲线 | 第39-41页 |
| 3．4 可靠性指标 | 第41-44页 |
| 3．4．1 经典的可靠性指标 | 第41-42页 |
| 3．4．2 计入有效值变化的可靠性指标 | 第42-44页 |
| 3．5 减少电压凹陷和短时间断的措施 | 第44-46页 |
| 第四章 计入电压凹陷和短时间断的配电系统可靠性评估程序设计 | 第46-60页 |
| 4．1 国内外配电系统可靠性评估软件现状 | 第46页 |
| 4．2 程序的总体设计 | 第46-50页 |
| 4．2．1 本程序的特点 | 第47页 |
| 4．2．2 程序结构的制定 | 第47-49页 |
| 4．2．3 可靠性评估程序的主程序流程 | 第49-50页 |
| 4．3 元件的数学模型与故障模式 | 第50-54页 |
| 4．3．1 断路器故障模型 | 第50-51页 |
| 4．3．1．1 常闭断路器拒分 | 第50-51页 |
| 4．3．1．2 常开断路器拒合 | 第51页 |
| 4．3．2 母线模型 | 第51页 |
| 4．3．3 输电线故障模型 | 第51-53页 |
| 4．3．3．1 独立故障 | 第52页 |
| 4．3．3．2 相关故障 | 第52页 |
| 4．3．3．3 共同模式故障 | 第52-53页 |
| 4．3．4 变压器模型与故障模式 | 第53页 |
| 4．3．5 重合闸模型 | 第53页 |
| 4．3．6 可靠性评估中负荷的处理 | 第53-54页 |
| 4．4 配电系统运行状态的选择 | 第54-60页 |
| 4．4．1 元件运行状态的模拟 | 第54-55页 |
| 4．4．2 配电系统运行状态的模拟 | 第55-57页 |
| 4．4．3 配电系统运行状态选择的程序实现 | 第57-60页 |
| 第五章 可靠性计算结果与分析 | 第60-69页 |
| 5．1 引言 | 第60-62页 |
| 5．2 本论文所采用的网络结构 | 第62-63页 |
| 5．3 影响配电系统可靠性的因素 | 第63-68页 |
| 5．3．1 电压凹陷和短时间断对可靠性的影响 | 第63-65页 |
| 5．3．2 电压凹陷的统计范围对可靠性的影响 | 第65-67页 |
| 5．3．3 负荷敏感程度与可靠性的关系 | 第67-68页 |
| 5．4 小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 附录1： 部分计算结果 | 第71-73页 |
| 附件2： 部分IEEE DRTS数据 | 第73-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 致谢 | 第79页 |