第一章 绪论 | 第1-15页 |
·引言 | 第7页 |
·IGBT的结构与工作原理,发展过程及最新进展 | 第7-10页 |
·IGBT的结构与工作原理 | 第7-8页 |
·IGBT的发展过程及最新进展 | 第8-10页 |
·电力电子器件开关损耗测量及其建模研究的现状和意义 | 第10-13页 |
·本文主要研究内容 | 第13-15页 |
第二章 测试系统硬件电路的设计与优化 | 第15-34页 |
·原理与设计 | 第15-21页 |
·测试原理 | 第15-16页 |
·自动测试功能的实现与设计 | 第16-21页 |
·电路优化与分析 | 第21-34页 |
·系统辅助电源的优化 | 第21-25页 |
·系统测量误差的分析 | 第25-27页 |
·系统直流母线电压准确度及稳定性校正 | 第27-31页 |
·电感电流的采样校正 | 第31页 |
·测试系统的结构设计 | 第31-34页 |
第三章 测试系统软件设计与优化 | 第34-39页 |
·人机界面与DSP控制设计 | 第34-37页 |
·示波器的设置 | 第37-39页 |
第四章 建模系统软件设计 | 第39-54页 |
·功率损耗的定义 | 第39页 |
·建模方法介绍及本文使用的建模方法 | 第39-44页 |
·基于器件仿真的损耗模型 | 第39-41页 |
·基于数学计算的损耗模型 | 第41-44页 |
·建模软件的流程及优化 | 第44-54页 |
·开关区间的定义和损耗的计算 | 第44-46页 |
·两种损耗模型的建模 | 第46-49页 |
·建模软件的结构 | 第49-54页 |
第五章 验证 | 第54-81页 |
·神经网络准确性分析 | 第54-59页 |
·测试系统通用性验证 | 第59-69页 |
·测试波形分析 | 第59-69页 |
·建模系统准确性验证 | 第69-81页 |
·恒定功率与器件温升的关系 | 第70-73页 |
·获取电路的稳定工作温度 | 第73-75页 |
·通过平均模型计算损耗 | 第75-80页 |
·验证结论 | 第80-81页 |
第六章 结论与展望 | 第81-83页 |
·结论 | 第81-82页 |
·进一步工作展望 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-87页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第87-88页 |
致谢 | 第88页 |