TiO2基纳米材料的制备及氧敏传感器的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 文献综述 | 第7-29页 |
| ·纳米材料 | 第7-10页 |
| ·纳米材料与块体材料的区别 | 第7-8页 |
| ·引起纳米粒子性能突变的原因 | 第8-9页 |
| ·纳米材料的微结构 | 第9-10页 |
| ·金属氧化物半导体气敏传感器 | 第10-18页 |
| ·金属氧化物半导体气敏传感器及气敏材料 | 第10-11页 |
| ·半导体氧化物的性质 | 第11-12页 |
| ·气敏元件的制备及其测试方法 | 第12-15页 |
| ·金属氧化物半导体气敏传感器的气敏机理 | 第15-18页 |
| ·氧敏传感器和氧敏材料 | 第18-20页 |
| ·二氧化钛基氧敏材料 | 第20-27页 |
| ·TiO_2气敏材料 | 第21-22页 |
| ·TiO_2基氧敏材料及其传感器性能研究进展 | 第22-27页 |
| ·选题依据和研究思路 | 第27-29页 |
| ·选题依据 | 第27-28页 |
| ·研究思路 | 第28-29页 |
| 第二章 实验部分 | 第29-34页 |
| ·主要试剂、仪器和表征方法 | 第29-31页 |
| ·主要实验试剂 | 第29-30页 |
| ·实验设备及测试仪器 | 第30页 |
| ·粉体的表征方法 | 第30-31页 |
| ·粉体的合成方法 | 第31-32页 |
| ·纯TiO_2纳米粉体制备 | 第31-32页 |
| ·掺杂TiO_2纳米粉体制备 | 第32页 |
| ·元件的气敏测试 | 第32-34页 |
| ·厚膜元件的制作与测试 | 第32页 |
| ·气敏测试方法 | 第32-34页 |
| 第三章 TiO_2粉体的表征 | 第34-50页 |
| ·纯TiO_2粉体 | 第34-38页 |
| ·热重-差热分析 | 第34-35页 |
| ·粉体的XRD 分析 | 第35-36页 |
| ·粉体的IR 分析 | 第36-37页 |
| ·厚膜的表面形貌ESEM 分析 | 第37-38页 |
| ·掺杂粉体 | 第38-49页 |
| ·粉体的XRD 分析 | 第38-43页 |
| ·粉体的IR 分析 | 第43-46页 |
| ·厚膜的表面形貌ESEM 分析 | 第46-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第四章 气敏性能测试 | 第50-62页 |
| ·纯TiO_2的气敏性 | 第50-52页 |
| ·Mo 掺杂样品的气敏性 | 第52-56页 |
| ·W 掺杂样品的气敏性 | 第56-59页 |
| ·Ce 掺杂样品的气敏性 | 第59-61页 |
| ·小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 硕士期间发表的文章 | 第68页 |
| 个人简历 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
