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EUV/X-ray光学元件倾斜度面形误差检测方法与测量仪器长轨面形仪(LTP)的研究

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-5页
目录第5-7页
第一章 绪论第7-13页
   ·论文研究的目的和意义第7-8页
   ·课题的提出与研究背景第8-10页
   ·研究现状与目前国内外的水平第10-11页
   ·主要研究内容第11-13页
第二章 同步辐射光束线与同步辐射光学元件第13-23页
   ·同步辐射光源及同步辐射光束线第13-14页
   ·同步辐射光学系统设计第14页
   ·同步辐射光学系统及其光学元件的特点第14-16页
   ·同步辐射光学元件的超光滑加工方法第16-17页
   ·同步辐射光学元件的检测方法第17-23页
第三章 EUV/X-ray光学元件检测方法的实验研究第23-29页
   ·设计要求第23-24页
   ·半径与面形检测第24页
   ·成像法测量实验装置第24-25页
   ·半径与面形误差测量实验第25-26页
   ·表面粗糙度测量第26-27页
   ·镀膜反射率检测第27-29页
第四章 LTP仪器工作原理与发展概况第29-33页
   ·仪器工作原理第29-30页
   ·LTP仪器研制发展历史概况第30-33页
第五章 LTP-Ⅲ光、机、电、计总体结构方案设计第33-45页
   ·现场测量长轨面形仪(LTP-Ⅲ)总体技术指标及功用第33页
   ·LTP-Ⅲ总体结构组成第33-35页
   ·光学系统图及光学头部件第35-36页
   ·LTP-Ⅲ的机械结构第36-39页
   ·五棱镜扫描机构及直流电机半闭环伺服控制系统第39页
   ·探测器与数据采集卡及计算机系统第39-40页
   ·计算机控制与数据分析系统第40-41页
   ·检测调整架、激光器与底座第41页
   ·LTP光学头光学系统改进设计第41-45页
第六章 LTP-Ⅲ光学系统调校方法第45-48页
第七章 LTP-Ⅲ的电路工作原理第48-53页
   ·光电二极管线阵工作电路设计第48-51页
   ·数据采集卡,A/D变换板A-826PG第51页
   ·控制与电源板CTRLPW第51页
   ·直流伺服电动机的控制系统第51-53页
第八章 LTP-Ⅲ的光、机、电联调与测量实验及应用第53-58页
   ·仪器装调要点第53页
   ·光、机、电联调及倾斜度测量实验第53-55页
   ·测量误差分析第55-56页
   ·LTP-Ⅲ的应用--高热负载光学元件的现场测量第56-58页
结论第58-60页
致谢第60-61页
参考文献第61-62页

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