摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·论文研究的目的和意义 | 第7-8页 |
·课题的提出与研究背景 | 第8-10页 |
·研究现状与目前国内外的水平 | 第10-11页 |
·主要研究内容 | 第11-13页 |
第二章 同步辐射光束线与同步辐射光学元件 | 第13-23页 |
·同步辐射光源及同步辐射光束线 | 第13-14页 |
·同步辐射光学系统设计 | 第14页 |
·同步辐射光学系统及其光学元件的特点 | 第14-16页 |
·同步辐射光学元件的超光滑加工方法 | 第16-17页 |
·同步辐射光学元件的检测方法 | 第17-23页 |
第三章 EUV/X-ray光学元件检测方法的实验研究 | 第23-29页 |
·设计要求 | 第23-24页 |
·半径与面形检测 | 第24页 |
·成像法测量实验装置 | 第24-25页 |
·半径与面形误差测量实验 | 第25-26页 |
·表面粗糙度测量 | 第26-27页 |
·镀膜反射率检测 | 第27-29页 |
第四章 LTP仪器工作原理与发展概况 | 第29-33页 |
·仪器工作原理 | 第29-30页 |
·LTP仪器研制发展历史概况 | 第30-33页 |
第五章 LTP-Ⅲ光、机、电、计总体结构方案设计 | 第33-45页 |
·现场测量长轨面形仪(LTP-Ⅲ)总体技术指标及功用 | 第33页 |
·LTP-Ⅲ总体结构组成 | 第33-35页 |
·光学系统图及光学头部件 | 第35-36页 |
·LTP-Ⅲ的机械结构 | 第36-39页 |
·五棱镜扫描机构及直流电机半闭环伺服控制系统 | 第39页 |
·探测器与数据采集卡及计算机系统 | 第39-40页 |
·计算机控制与数据分析系统 | 第40-41页 |
·检测调整架、激光器与底座 | 第41页 |
·LTP光学头光学系统改进设计 | 第41-45页 |
第六章 LTP-Ⅲ光学系统调校方法 | 第45-48页 |
第七章 LTP-Ⅲ的电路工作原理 | 第48-53页 |
·光电二极管线阵工作电路设计 | 第48-51页 |
·数据采集卡,A/D变换板A-826PG | 第51页 |
·控制与电源板CTRLPW | 第51页 |
·直流伺服电动机的控制系统 | 第51-53页 |
第八章 LTP-Ⅲ的光、机、电联调与测量实验及应用 | 第53-58页 |
·仪器装调要点 | 第53页 |
·光、机、电联调及倾斜度测量实验 | 第53-55页 |
·测量误差分析 | 第55-56页 |
·LTP-Ⅲ的应用--高热负载光学元件的现场测量 | 第56-58页 |
结论 | 第58-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-62页 |