基于March C+算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·集成电路测试的研究现状 | 第11-15页 |
| ·模拟集成电路测试的研究现状 | 第11-12页 |
| ·数字集成电路测试的研究现状 | 第12-15页 |
| ·嵌入式存储器测试发展动态 | 第15-17页 |
| ·本文主要研究内容 | 第17-18页 |
| 第2章 嵌入式存储器测试概述 | 第18-28页 |
| ·存储器分类 | 第18页 |
| ·存储器模型设计 | 第18-20页 |
| ·存储器功能模型和工作原理 | 第18-19页 |
| ·静态存储单元 | 第19-20页 |
| ·嵌入式存储器主要故障类型 | 第20-24页 |
| ·存储单元功能故障 | 第21-23页 |
| ·地址译码电路功能故障 | 第23页 |
| ·读/写逻辑电路功能故障 | 第23-24页 |
| ·嵌入式存储器测试方法 | 第24-27页 |
| ·存储器直接存取测试 | 第24-25页 |
| ·片上微处理器测试 | 第25页 |
| ·存储器内建自测试 | 第25-26页 |
| ·存储器测试方法比较 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 嵌入式存储器BIST 技术及算法分析 | 第28-44页 |
| ·存储器内建自测试技术原理 | 第28-29页 |
| ·存储器内建自测试结构 | 第29-34页 |
| ·March 算法研究 | 第34-43页 |
| ·March 算法概述 | 第34-35页 |
| ·几种主要的March 算法及有效性 | 第35-38页 |
| ·March C+算法 | 第38-39页 |
| ·March C+算法有限状态机设计 | 第39-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 BIST 子模块设计与仿真 | 第44-58页 |
| ·存储器内建自测试的软件平台 | 第44-45页 |
| ·测试向量生成器设计 | 第45-49页 |
| ·地址向量发生器设计 | 第49-52页 |
| ·读写控制器设计 | 第52-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 BIST 系统设计与仿真实现 | 第58-65页 |
| ·BIST 电路设计思想 | 第58-59页 |
| ·BIST 电路系统结构 | 第59-61页 |
| ·BIST 电路系统仿真实现 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
