| 中文摘要 | 第1-10页 |
| 英文摘要 | 第10-14页 |
| 引言 | 第14-23页 |
| 相位衬度成像技术的物理基础: | 第14-21页 |
| 1、类同轴成像: | 第15-17页 |
| 2、衍射增强法: | 第17-19页 |
| 3、干涉法成像: | 第19-21页 |
| 参考文献 | 第21-23页 |
| 第一部分 类同轴X线相位衬度成像研究 | 第23-36页 |
| 前言 | 第23页 |
| 材料与方法 | 第23-25页 |
| 结果 | 第25-31页 |
| 讨论 | 第31-32页 |
| 结论 | 第32-34页 |
| 参考文献 | 第34-36页 |
| 第二部分 衍射增强法成像试验(一) | 第36-54页 |
| 前言 | 第36页 |
| 材料和方法 | 第36-38页 |
| 结果 | 第38-49页 |
| 讨论 | 第49-51页 |
| 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 第三部分 衍射增强法成像试验(二) | 第54-73页 |
| 前言 | 第54页 |
| 材料和方法 | 第54-55页 |
| 结果 | 第55-64页 |
| 讨论 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-73页 |
| 文献综述(一) | 第73-85页 |
| 文献综述(二) | 第85-95页 |
| 缩略词表 | 第95-96页 |
| 附录 | 第96-106页 |
| 致谢 | 第106-107页 |