| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 文献综述 | 第11-22页 |
| 1.1 高纯金概述 | 第11页 |
| 1.1.1 高纯金的定义 | 第11页 |
| 1.1.2 高纯金的性质 | 第11页 |
| 1.1.3 高纯金的应用 | 第11页 |
| 1.2 金的检测研究现状 | 第11-16页 |
| 1.2.1 原子吸收光谱法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 原子发射光谱法 | 第12-14页 |
| 1.2.3 电感耦合等离子体质谱法 | 第14-15页 |
| 1.2.4 原子荧光光谱法 | 第15-16页 |
| 1.2.5 紫外-可见分光光度法 | 第16页 |
| 1.3 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法 | 第16-20页 |
| 1.3.1 激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法工作原理 | 第16-17页 |
| 1.3.2 激光剥蚀系统 | 第17-18页 |
| 1.3.3 电感耦合等离子体质谱法 | 第18页 |
| 1.3.4 激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法优势 | 第18-19页 |
| 1.3.5 激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法面临的问题 | 第19页 |
| 1.3.6 激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法的校正技术 | 第19-20页 |
| 1.4 本课题的研究意义及内容 | 第20-22页 |
| 1.4.1 研究意义 | 第20页 |
| 1.4.2 研究内容 | 第20-22页 |
| 2 纯铜中杂质元素的分析及相对灵敏度因子的计算 | 第22-33页 |
| 2.1 实验仪器与材料 | 第22页 |
| 2.2 测定元素的同位素选择 | 第22-23页 |
| 2.3 激光剥蚀参数优化 | 第23-28页 |
| 2.3.1 激光能量 | 第23-24页 |
| 2.3.2 剥蚀孔径 | 第24-25页 |
| 2.3.3 扫描速率 | 第25-26页 |
| 2.3.4 载气流速 | 第26-28页 |
| 2.4 纯铜标样中杂质元素分析 | 第28页 |
| 2.5 使用相对灵敏度因子校正基体效应 | 第28-29页 |
| 2.6 仪器检出限 | 第29-30页 |
| 2.7 待测样品中杂质元素分析 | 第30-31页 |
| 2.7.1 LA-ICP-MS法分析待测样品中杂质元素 | 第30页 |
| 2.7.2 ICP-MS法分析待测样品中杂质元素 | 第30-31页 |
| 2.8 两种分析方法的结果比对 | 第31-32页 |
| 2.9 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 纯金中杂质元素的定量分析 | 第33-40页 |
| 3.1 实验仪器与材料 | 第33页 |
| 3.2 激光剥蚀参数优化 | 第33-37页 |
| 3.2.1 激光能量 | 第33-34页 |
| 3.2.2 剥蚀孔径 | 第34-35页 |
| 3.2.3 扫描速率 | 第35-36页 |
| 3.2.4 载气流量 | 第36-37页 |
| 3.3 相对灵敏度因子的计算 | 第37页 |
| 3.4 检出限 | 第37-38页 |
| 3.5 高纯金的测定 | 第38-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 4 其他方法的比对 | 第40-43页 |
| 4.1 辉光放电质谱 | 第40页 |
| 4.1.1 实验仪器和材料 | 第40页 |
| 4.1.2 实验方法 | 第40页 |
| 4.1.3 测定结果 | 第40页 |
| 4.2 电感耦合等离子体质谱 | 第40-41页 |
| 4.2.1 实验仪器和材料 | 第40-41页 |
| 4.2.2 实验方法 | 第41页 |
| 4.2.3 测定结果 | 第41页 |
| 4.3 三种方法汇总 | 第41-43页 |
| 结论 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-49页 |
| 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50页 |
