全波去嵌法的原理与应用
摘要 | 第3-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第11-19页 |
1.1 背景与意义 | 第11-12页 |
1.2 历史与现状 | 第12-16页 |
1.2.1 传统方法 | 第13-15页 |
1.2.2 全波去嵌法 | 第15-16页 |
1.3 本文的主要创新点 | 第16-17页 |
1.4 章节安排 | 第17-19页 |
第二章 嵌入方程 | 第19-25页 |
2.1 引言 | 第19页 |
2.2 嵌入方程及其矩阵函数形式 | 第19-20页 |
2.3 嵌入方程的向量化 | 第20-21页 |
2.4 线性化误差模型 | 第21-22页 |
2.5 最小二乘去嵌解 | 第22-24页 |
2.6 本章小结 | 第24-25页 |
第三章 系统校准与夹具表征 | 第25-41页 |
3.1 引言 | 第25-26页 |
3.2 基于多线TRL法的系统校准 | 第26-29页 |
3.3 归一化不变性原理 | 第29-32页 |
3.4 复介电常数测量 | 第32-39页 |
3.4.1 谐振法 | 第33-36页 |
3.4.2 传输线特性法 | 第36-39页 |
3.5 本章小结 | 第39-41页 |
第四章 多夹具全波去嵌法 | 第41-65页 |
4.1 引言 | 第41页 |
4.2 不确定度分析 | 第41-46页 |
4.2.1 统计假设 | 第41-42页 |
4.2.2 定量结果 | 第42-46页 |
4.3 最优夹具条件 | 第46-50页 |
4.4 多夹具法 | 第50-55页 |
4.4.1 基本原理 | 第50-51页 |
4.4.2 不确定度分析 | 第51-52页 |
4.4.3 互补夹具 | 第52-53页 |
4.4.4 协方差矩阵估计 | 第53-55页 |
4.4.5 置信区域与置信区间 | 第55页 |
4.5 算例:表面贴装p-i-n二极管 | 第55-63页 |
4.5.1 待测器件 | 第55-57页 |
4.5.2 夹具设计 | 第57-59页 |
4.5.3 Monte Carlo仿真 | 第59-63页 |
4.5.4 实验结果 | 第63页 |
4.6 本章小结 | 第63-65页 |
第五章 混合全波去嵌法 | 第65-93页 |
5.1 引言 | 第65-66页 |
5.2 基本原理 | 第66-67页 |
5.3 残余表征误差 | 第67-70页 |
5.4 修正量的数值求解 | 第70-74页 |
5.4.1 概述 | 第70-71页 |
5.4.2 改进算法 | 第71-72页 |
5.4.3 g的 Jacobian矩阵 | 第72-74页 |
5.5 算例:同轴端口待测器件 | 第74-77页 |
5.6 算例:表面贴装晶体管 | 第77-87页 |
5.6.1 概述 | 第77-78页 |
5.6.2 夹具与标准件 | 第78-80页 |
5.6.3 测量系统 | 第80-83页 |
5.6.4 实验结果 | 第83-87页 |
5.7 标准件的表征与选择 | 第87-91页 |
5.7.1 虚拟去嵌 | 第87-89页 |
5.7.2 匹配件 | 第89-91页 |
5.8 本章小结 | 第91-93页 |
第六章 全波去嵌法在场路协同仿真中的应用 | 第93-123页 |
6.1 引言 | 第93-96页 |
6.2 内部端口寄生效应及压缩矩阵的不唯一性 | 第96-98页 |
6.3 基于全波去嵌的协同仿真方法 | 第98-101页 |
6.4 算例:开路件和短路件 | 第101-104页 |
6.5 算例:表面贴装电容 | 第104-113页 |
6.5.1 实验概述 | 第104-105页 |
6.5.2 电容的去嵌 | 第105-108页 |
6.5.3 协同仿真结果 | 第108-113页 |
6.6 算例:X波段SPST开关 | 第113-116页 |
6.7 算例:Ku波段低噪声放大器 | 第116-121页 |
6.8 本章小结 | 第121-123页 |
第七章 总结与展望 | 第123-125页 |
7.1 本文总结 | 第123-124页 |
7.2 研究展望 | 第124-125页 |
附录A Kronecker积的定义与性质 | 第125-126页 |
附录B 场效应晶体管本征元件的表达式 | 第126-128页 |
附录C 三端口夹具的反端接算法 | 第128-129页 |
附录D NE3503M04的EEHEMT1模型 | 第129-130页 |
参考文献 | 第130-140页 |
致谢 | 第140-141页 |
攻读学位期间参与的科研项目和取得的学术成果 | 第141-144页 |