图像大容量均勾嵌入隐写研究
| 摘要 | 第8-9页 |
| Abstract | 第9页 |
| 1 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 论文研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3 论文组织结构 | 第15-17页 |
| 2 数字隐写 | 第17-21页 |
| 2.1 数字隐写技术 | 第17-18页 |
| 2.1.1 数字隐写模型 | 第17页 |
| 2.1.2 数字隐写的主要性能指标 | 第17-18页 |
| 2.2 自适应隐写技术 | 第18-20页 |
| 2.2.1 自适应隐写 | 第18-19页 |
| 2.2.2 最小化失真嵌入框架 | 第19-20页 |
| 2.2.3 基于富模型的JPEG图像隐写分析法 | 第20页 |
| 2.3 本章小结 | 第20-21页 |
| 3 基于块熵的均匀嵌入方案 | 第21-27页 |
| 3.1 均匀块熵嵌入失真 | 第21-23页 |
| 3.1.1 均匀嵌入改进算法(UERD) | 第21-22页 |
| 3.1.2 熵权算法(EBS) | 第22页 |
| 3.1.3 基于块熵的均匀嵌入失真 | 第22-23页 |
| 3.2 隐写方案 | 第23-24页 |
| 3.3 实验结果与分析 | 第24-26页 |
| 3.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 4 基于边信息与控制参数的均匀嵌入方案 | 第27-37页 |
| 4.1 基于边信息的均匀嵌入方案 | 第27-28页 |
| 4.1.1 边信息 | 第27-28页 |
| 4.1.2 基于边信息的失真函数 | 第28页 |
| 4.2 基于控制参数的均匀嵌入方案 | 第28-32页 |
| 4.2.1 控制参数 | 第29页 |
| 4.2.2 基于控制参数的均匀嵌入失真 | 第29-32页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第32-36页 |
| 4.3.1 测试影响因子的单独作用 | 第33-35页 |
| 4.3.2 影响因子相结合的性能测试 | 第35-36页 |
| 4.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 5 结论与展望 | 第37-39页 |
| 5.1 本文工作总结 | 第37-38页 |
| 5.2 工作展望 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-43页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第43-44页 |
| 致谢 | 第44页 |
