摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第12-15页 |
1.1 课题来源与背景 | 第12页 |
1.1.1 课题来源 | 第12页 |
1.1.2 课题研究背景 | 第12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
1.3 论文的主要研究内容 | 第14-15页 |
第二章 糖晶体图像检测系统研究 | 第15-24页 |
2.1 引言 | 第15页 |
2.2 蔗糖结晶颗粒检测系统总体方案的研究 | 第15-16页 |
2.3 硬件系统方案设计及选型 | 第16-22页 |
2.3.1 自动取样及清洗装置 | 第17页 |
2.3.2 光源和照明系统设计 | 第17-19页 |
2.3.3 摄像子系统 | 第19-22页 |
2.4 软件系统工作流程 | 第22-23页 |
2.5 本章小结 | 第23-24页 |
第三章 糖晶体图像预处理 | 第24-52页 |
3.1 引言 | 第24页 |
3.2 图像标定 | 第24页 |
3.3 图像增强 | 第24-30页 |
3.3.1 灰度直方图 | 第25页 |
3.3.2 灰度变换 | 第25-28页 |
3.3.3 灰度变换结果对比分析 | 第28-30页 |
3.4 图像滤波 | 第30-35页 |
3.4.1 中值滤波 | 第30页 |
3.4.2 自适应中值滤波 | 第30-31页 |
3.4.3 PCNN算法 | 第31-32页 |
3.4.4 基于简化型PCNN的自适应中值滤波 | 第32-33页 |
3.4.5 仿真结果与分析 | 第33-35页 |
3.5 图像分割 | 第35-40页 |
3.5.1 阈值分割 | 第35-36页 |
3.5.2 最大熵法 | 第36-37页 |
3.5.3 最大类间方差法 | 第37页 |
3.5.4 最小误差法 | 第37-39页 |
3.5.5 图像分割效果对比 | 第39-40页 |
3.6 二值图像形态学优化 | 第40-42页 |
3.6.1 数学形态学基本方法 | 第40-41页 |
3.6.2 糖晶体二值图像形态学优化 | 第41-42页 |
3.7 粘连颗粒的分割 | 第42-51页 |
3.7.1 分水岭分割算法 | 第42-44页 |
3.7.2 分水岭算法的数学描述 | 第44-45页 |
3.7.3 基于距离变换的分水岭算法 | 第45-46页 |
3.7.4 基于局部极小值合并的分水岭算法 | 第46-47页 |
3.7.5 一种优化的分水岭分割算法 | 第47-51页 |
3.8 本章小结 | 第51-52页 |
第四章 糖晶体的特征提取和粗糙集降维处理 | 第52-63页 |
4.1 糖晶体特征值提取 | 第52-56页 |
4.1.1 轮廓跟踪 | 第52-54页 |
4.1.2 糖晶体特征参数提取 | 第54-56页 |
4.2 粗糙集基本理论 | 第56-58页 |
4.2.1 信息系统与决策表 | 第56-57页 |
4.2.2 不可分辨关系与上、下近似集 | 第57页 |
4.2.3 属性约简 | 第57-58页 |
4.3 对糖晶体特征值进行粗糙集降维处理 | 第58-62页 |
4.3.1 粗糙集的处理步骤 | 第58-62页 |
4.4 本章小结 | 第62-63页 |
第五章 煮糖过程结晶状态分类 | 第63-73页 |
5.1 引言 | 第63页 |
5.2 高斯过程概念 | 第63-64页 |
5.2.1 高斯分布 | 第63页 |
5.2.2 高斯过程 | 第63-64页 |
5.3 高斯过程的模型选择 | 第64-67页 |
5.3.1 高斯过程均值函数及核函数的选择 | 第64-65页 |
5.3.2 高斯过程超参数优化 | 第65-67页 |
5.4 基于高斯过程的分类 | 第67-69页 |
5.4.1 高斯过程分类基本原理 | 第67-69页 |
5.5 基于高斯过程分类结晶状态模型构建及实验测试与分析 | 第69-72页 |
5.5.1 结晶状态高斯过程分类模型构建 | 第69-70页 |
5.5.2 预测模型的测试与分析 | 第70-72页 |
5.6 本章小结 | 第72-73页 |
第六章 软件系统的设计 | 第73-80页 |
6.1 图像检测系统的工作流程图 | 第73页 |
6.2 系统功能和实验结果 | 第73-79页 |
6.3 本章小结 | 第79-80页 |
第七章 总结与展望 | 第80-82页 |
7.1 总结 | 第80页 |
7.2 展望 | 第80-82页 |
参考文献 | 第82-86页 |
致谢 | 第86-87页 |
硕士期间的研究成果及发表的论文 | 第87页 |