摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
1.1 研究的背景和意义 | 第10-11页 |
1.2 模拟电路故障诊断的概念及过程 | 第11-12页 |
1.3 国内外研究现状分析 | 第12-18页 |
1.3.1 故障特征提取研究现状 | 第12-13页 |
1.3.2 故障诊断研究现状 | 第13-15页 |
1.3.3 单类学习方法研究现状 | 第15-17页 |
1.3.4 现状总结 | 第17-18页 |
1.4 本文主要研究内容及论文结构 | 第18-21页 |
第2章 单分类法实现模拟电路模块故障诊断的基础 | 第21-35页 |
2.1 引言 | 第21页 |
2.2 电路模块划分原则 | 第21-24页 |
2.2.1 电路模块划分的提出 | 第21-22页 |
2.2.2 电路模块划分的原则 | 第22-24页 |
2.3 模拟电路模块故障诊断的可行性研究 | 第24-34页 |
2.3.1 实验对象的选取 | 第24-26页 |
2.3.2 电路扫频分析 | 第26-31页 |
2.3.3 相似度度量分析 | 第31-34页 |
2.4 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 故障特征提取方法研究 | 第35-58页 |
3.1 引言 | 第35页 |
3.2 特征提取方法的原理 | 第35-40页 |
3.2.1 主成分分析原理 | 第36-38页 |
3.2.2 小波变换原理 | 第38-40页 |
3.3 基于SVDD的模拟电路模块故障检测方法 | 第40-44页 |
3.3.1 SVDD的原理 | 第40-43页 |
3.3.2 基于SVDD线性核的模块故障检测流程 | 第43-44页 |
3.4 仿真实验及验证 | 第44-57页 |
3.4.1 基于PCA-SVDD线性核的检测方法仿真验证 | 第44-52页 |
3.4.1.1 从时域角度进行仿真验证 | 第45-50页 |
3.4.1.2 从频域角度进行仿真验证 | 第50-52页 |
3.4.2 基于WT-SVDD线性核的检测方法仿真验证 | 第52-55页 |
3.4.2.1 从时域角度进行仿真验证 | 第52-54页 |
3.4.2.2 从频域角度进行仿真验证 | 第54-55页 |
3.4.3 仿真实验结果对比及分析 | 第55-57页 |
3.5 本章小结 | 第57-58页 |
第4章 SVDD模块故障检测模型改进 | 第58-71页 |
4.1 引言 | 第58页 |
4.2 支持向量描述中的核函数研究 | 第58-61页 |
4.2.1 核函数及其基本性质 | 第58-59页 |
4.2.2 高斯核函数 | 第59-60页 |
4.2.3 多项式核函数 | 第60-61页 |
4.3 检测流程及参数寻优方法 | 第61-62页 |
4.3.1 基于SVDD高斯核和多项式核的模块故障检测流程 | 第61页 |
4.3.2 参数寻优方法 | 第61-62页 |
4.4 仿真实验及验证 | 第62-70页 |
4.4.1 基于PCA-SVDD高斯核的检测方法仿真验证 | 第62-65页 |
4.4.1.1 从时域角度进行仿真验证 | 第62-64页 |
4.4.1.2 从频域角度进行仿真验证 | 第64-65页 |
4.4.2 基于PCA-SVDD多项式核的检测方法仿真验证 | 第65-67页 |
4.4.2.1 从时域角度进行仿真验证 | 第65-66页 |
4.4.2.2 从频域角度进行仿真验证 | 第66-67页 |
4.4.3 仿真实验结果对比及分析 | 第67-69页 |
4.4.4 特征提取方式分析 | 第69-70页 |
4.5 本章小结 | 第70-71页 |
第5章 基于D-S证据融合的模拟电路模块故障诊断 | 第71-83页 |
5.1 引言 | 第71页 |
5.2 基于D-S证据融合的模块故障诊断方法 | 第71-75页 |
5.2.1 逻辑判别方式 | 第71-72页 |
5.2.2 D-S证据理论 | 第72-74页 |
5.2.3 基于D-S证据融合模块故障诊断的流程 | 第74-75页 |
5.3 仿真实验及验证 | 第75-79页 |
5.3.1 基于D-S证据理论的模块故障诊断方法仿真验证 | 第75-79页 |
5.3.2 实验结果及分析 | 第79页 |
5.4 硬件实验及验证 | 第79-82页 |
5.4.1 硬件平台搭建 | 第79-80页 |
5.4.2 实验结果及分析 | 第80-82页 |
5.5 本章小结 | 第82-83页 |
结论 | 第83-85页 |
参考文献 | 第85-91页 |
致谢 | 第91页 |