阵列天线源场测试系统的研究与设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 阵列天线测试系统的研究意义和主要任务 | 第9页 |
| 1.2 阵列天线测试的发展历史及研究现状 | 第9-17页 |
| 1.2.1 国外阵列天线测试的发展历史及研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.2 国内阵列天线测试的发展历史及研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.3 设计方案选择与目标设定 | 第16-17页 |
| 1.3 论文主要工作和内容安排 | 第17-19页 |
| 第二章 基本原理和关键技术 | 第19-34页 |
| 2.1 天线辐射场区的分类 | 第19-20页 |
| 2.2 源场测试系统基本原理 | 第20-27页 |
| 2.2.1 电磁波干涉与叠加原理 | 第20-22页 |
| 2.2.2 方向图叠加乘积原理 | 第22-24页 |
| 2.2.3 源场探头探测原理 | 第24-27页 |
| 2.3 源场探头一体化设计原理 | 第27-29页 |
| 2.4 阵中方向图原理的探究 | 第29-31页 |
| 2.5 源场测试探头的性能指标 | 第31-32页 |
| 2.6 系统测试误差原理 | 第32-33页 |
| 2.7 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 阵列天线源场测试系统硬件的设计研究 | 第34-69页 |
| 3.1 系统硬件功能的描述 | 第34-35页 |
| 3.2 源场测试系统单频探头振子单元的设计 | 第35-45页 |
| 3.2.1 电路结构及初步评估 | 第35-38页 |
| 3.2.2 单频源场探头振子单元的设计与分析 | 第38-45页 |
| 3.3 源场测试系统双频探头振子单元的设计 | 第45-57页 |
| 3.3.1 电路结构及初步评估 | 第46页 |
| 3.3.2 双频源场探头振子单元的设计与分析 | 第46-53页 |
| 3.3.3 样品实物制作与测试 | 第53-57页 |
| 3.4 源场测试系统探头振子单元探测原理的研究 | 第57-68页 |
| 3.4.1 定向耦合器的设计、仿真与样品实测 | 第58-61页 |
| 3.4.2 功分器的设计、仿真与样品实测 | 第61-64页 |
| 3.4.3 源场探头探测原理的验证 | 第64-68页 |
| 3.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第四章 阵列天线源场测试系统软件的设计研究 | 第69-80页 |
| 4.1 系统软件功能的描述 | 第69页 |
| 4.2 源场测试系统软件的设计 | 第69-73页 |
| 4.2.1 阵中单元方向图提取部分 | 第70页 |
| 4.2.2 出射波信号采集及显示部分 | 第70-71页 |
| 4.2.3 阵列方向图计算绘图部分 | 第71-73页 |
| 4.3 系统样品及方向图实测结果 | 第73-79页 |
| 4.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第五章 阵列天线源场测试系统的实际应用 | 第80-88页 |
| 5.1 阵列天线源场测试系统操作步骤 | 第80-81页 |
| 5.2 阵列天线源场测试系统误差分析 | 第81-87页 |
| 5.3 本章小结 | 第87-88页 |
| 总结 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-94页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第94-95页 |
| 致谢 | 第95-96页 |
| 附件 | 第96页 |
