光栅编码器可靠性试验装置研制
| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题背景与来源 | 第11-12页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第11-12页 |
| 1.1.2 课题来源 | 第12页 |
| 1.2 研究目的与意义 | 第12-13页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3.1 光栅编码器发展历程 | 第13-14页 |
| 1.3.2 光栅编码器可靠性研究现状 | 第14-15页 |
| 1.4 论文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 试验装置总体方案设计 | 第17-37页 |
| 2.1 概述 | 第17-18页 |
| 2.2 试验对象介绍 | 第18-26页 |
| 2.2.1 编码器基本结构 | 第19-20页 |
| 2.2.2 工作原理 | 第20-23页 |
| 2.2.3 编码器性能指标 | 第23-26页 |
| 2.3 编码器故障分析 | 第26-31页 |
| 2.3.1 故障影响分析 | 第26-28页 |
| 2.3.2 故障树分析 | 第28-31页 |
| 2.4 试验台总体方案设计 | 第31-35页 |
| 2.4.1 试验装置需求分析 | 第31-33页 |
| 2.4.2 试验装置方案研究 | 第33-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-37页 |
| 第3章 试验装置的机械方案设计 | 第37-55页 |
| 3.1 支撑方案设计与改进 | 第37-44页 |
| 3.1.1 单动力外置方案 | 第37-39页 |
| 3.1.2 多动力内置方案 | 第39-42页 |
| 3.1.3 方案的对比与选定 | 第42-44页 |
| 3.1.4 试验装置模态分析 | 第44页 |
| 3.2 光栅编码器工装设计 | 第44-49页 |
| 3.2.1 HKD编码器工装设计 | 第45-47页 |
| 3.2.2 ZND编码器工装设计 | 第47-49页 |
| 3.3 加载方案设计 | 第49-51页 |
| 3.3.1 振动加载方案 | 第49-50页 |
| 3.3.2 温湿度加载方案 | 第50-51页 |
| 3.3.3 转速加载方案 | 第51页 |
| 3.4 机械部件加工 | 第51-54页 |
| 3.4.1 工艺规程设计 | 第52-53页 |
| 3.4.2 零件加工 | 第53-54页 |
| 3.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第4章 试验装置监测与控制系统的方案设计 | 第55-71页 |
| 4.1 概述 | 第55页 |
| 4.2 监测系统方案设计 | 第55-63页 |
| 4.2.1 监测系统硬件设计 | 第56-59页 |
| 4.2.2 监测系统软件设计 | 第59-63页 |
| 4.3 试验系统的控制方案设计 | 第63-69页 |
| 4.3.1 转速控制 | 第63-65页 |
| 4.3.2 振动控制方案 | 第65-67页 |
| 4.3.3 温湿度控制方案 | 第67-69页 |
| 4.4 本章小结 | 第69-71页 |
| 第5章 光栅编码器的可靠性试验 | 第71-85页 |
| 5.1 可靠性试验概述 | 第71-72页 |
| 5.1.1 可靠性试验分类 | 第71-72页 |
| 5.1.2 可靠性试验三要素 | 第72页 |
| 5.2 加速退化试验技术 | 第72-75页 |
| 5.2.1 加速退化试验分类 | 第72-73页 |
| 5.2.2 性能退化模型 | 第73-74页 |
| 5.2.3 加速方程 | 第74-75页 |
| 5.3 光栅编码器加速退化试验 | 第75-84页 |
| 5.3.1 应力选取 | 第76页 |
| 5.3.2 退化量选取 | 第76-77页 |
| 5.3.3 试验方案 | 第77-80页 |
| 5.3.4 试验数据采集 | 第80页 |
| 5.3.5 试验注意事项 | 第80页 |
| 5.3.6 试验数据处理 | 第80-84页 |
| 5.4 本章小结 | 第84-85页 |
| 第6章 总结与展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-93页 |
| 攻读硕士期间研究成果 | 第93-95页 |
| 致谢 | 第95页 |
