宽带小型化阵列天线技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3 主要工作及内容安排 | 第16-17页 |
| 第二章 基本理论与技术概述 | 第17-29页 |
| 2.1 宽带天线基本原理 | 第17-20页 |
| 2.1.1 天线的主要性能参数 | 第17-19页 |
| 2.1.2 宽带小型化天线概述 | 第19-20页 |
| 2.2 相控阵列天线基本理论与技术 | 第20-23页 |
| 2.2.1 相控阵列天线基本原理 | 第20-22页 |
| 2.2.2 传统宽带相控阵天线的技术瓶颈 | 第22-23页 |
| 2.3 超宽带紧耦合相控阵天线基本理论与技术 | 第23-28页 |
| 2.3.1 紧耦合阵列天线概述 | 第23-24页 |
| 2.3.2 紧耦合阵列天线展宽带宽原理 | 第24-25页 |
| 2.3.3 紧耦合阵列天线关键技术 | 第25-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 宽带小型化紧耦合阵列天线的设计 | 第29-69页 |
| 3.1 宽带阵列中的共模谐振及其抑制分析 | 第29-34页 |
| 3.1.1 共模谐振的产生 | 第29-31页 |
| 3.1.2 共模谐振的抑制 | 第31-34页 |
| 3.2 单元间强电容耦合分析 | 第34-38页 |
| 3.2.1 交指型结构强电容耦合 | 第34-37页 |
| 3.2.2 平行板型结构强电容耦合 | 第37-38页 |
| 3.3 介质加载对背地紧耦合阵列性能的影响分析 | 第38-42页 |
| 3.3.1 背地紧耦合阵列下方加载介质层的影响 | 第38-40页 |
| 3.3.2 背地紧耦合阵列上方加载介质层的影响 | 第40-42页 |
| 3.4 宽带小型化紧耦合阵列天线的仿真设计 | 第42-68页 |
| 3.4.1 无限周期环境中天线的建模与仿真 | 第42-54页 |
| 3.4.2 半无限周期环境中天线的仿真 | 第54-56页 |
| 3.4.3 有限阵列天线的仿真与优化 | 第56-68页 |
| 3.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第四章 宽带小型化紧耦合阵列天线的测试 | 第69-79页 |
| 4.1 天线加工与装配 | 第69-71页 |
| 4.2 天线性能测试及分析 | 第71-78页 |
| 4.2.1 天线驻波比和极化隔离度 | 第71-73页 |
| 4.2.2 天线方向图 | 第73-78页 |
| 4.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第五章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 5.1 全文总结 | 第79-80页 |
| 5.2 工作展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-87页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第87页 |
