| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第16-23页 |
| 1.1 研究背景及现状 | 第16-20页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第16-19页 |
| 1.1.2 研究现状 | 第19-20页 |
| 1.2 研究意义 | 第20-21页 |
| 1.3 研究内容及创新之处 | 第21-22页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第21页 |
| 1.3.2 创新之处 | 第21-22页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第22-23页 |
| 第二章 软错误基础知识及评估工具 | 第23-36页 |
| 2.1 辐射环境 | 第24-26页 |
| 2.1.1 空间辐射环境 | 第24-25页 |
| 2.1.2 大气辐射环境 | 第25-26页 |
| 2.1.3 核辐射环境 | 第26页 |
| 2.1.4 其它辐射环境 | 第26页 |
| 2.2 软错误产生机理 | 第26-27页 |
| 2.3 单粒子效应 | 第27-30页 |
| 2.3.1 单粒子效应分类 | 第28-29页 |
| 2.3.2 单粒子翻转 | 第29页 |
| 2.3.3 单粒子瞬态 | 第29-30页 |
| 2.4 软错误率的分析与评估 | 第30-33页 |
| 2.4.1 软错误率的评估技术 | 第30-31页 |
| 2.4.2 软错误率的评价标准 | 第31页 |
| 2.4.3 软错误率的计算及三种屏蔽效应 | 第31-33页 |
| 2.5 BFIT工具 | 第33-35页 |
| 2.5.1 BFIT的原理 | 第33-34页 |
| 2.5.2 BFIT的使用 | 第34-35页 |
| 2.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 组合逻辑电路加固技术 | 第36-44页 |
| 3.1 冗余技术 | 第38-39页 |
| 3.2 门尺寸重调法 | 第39-40页 |
| 3.3 二极管钳位电路法 | 第40-41页 |
| 3.4 电压调整法 | 第41-42页 |
| 3.5 CWSP单元加固法 | 第42-43页 |
| 3.6 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 基于CVSL结构的组合逻辑选择性加固方案 | 第44-56页 |
| 4.1 级联电压开关逻辑CVSL | 第44-50页 |
| 4.1.1 CVSL逻辑的提出 | 第44-46页 |
| 4.1.2 CVSL的结构分析 | 第46-47页 |
| 4.1.3 CVSL门的容SET效果分析 | 第47-48页 |
| 4.1.4 “CVSL门对”结构 | 第48-50页 |
| 4.2 选择性加固思想 | 第50页 |
| 4.3 基于“CVSL门对”结构的组合逻辑选择性加固 | 第50-52页 |
| 4.3.1 软错误率的计算 | 第50页 |
| 4.3.2 加固算法 | 第50-52页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第52-54页 |
| 4.5 与相关工作比较 | 第54页 |
| 4.6 本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-57页 |
| 5.1 全文总结 | 第56页 |
| 5.2 进一步工作 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第61-62页 |