| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第7页 |
| 1.2 移动支付 | 第7-8页 |
| 1.3 手机支付的几种终端解决方案 | 第8-9页 |
| 1.4 NFC 技术概述 | 第9-10页 |
| 1.5 本文的内容安排 | 第10-11页 |
| 第二章 SWP 协议 | 第11-19页 |
| 2.1 SWP 协议概述 | 第11-12页 |
| 2.2 SWP 电气规范及编码规则 | 第12-13页 |
| 2.2.1 S1 信号编码 | 第12-13页 |
| 2.2.2 S2 信号编码 | 第13页 |
| 2.3 SWP 数据链路层规范 | 第13-17页 |
| 2.3.1 MAC 层介绍 | 第14-15页 |
| 2.3.2 LLC 层介绍 | 第15-17页 |
| 2.4 本章小结 | 第17-19页 |
| 第三章 芯片测试的软硬件平台搭建 | 第19-31页 |
| 3.1 芯片架构介绍 | 第19页 |
| 3.2 SWP 接口框架 | 第19-21页 |
| 3.3 硬件平台构建 | 第21-23页 |
| 3.4 软件平台搭建 | 第23-30页 |
| 3.4.1 工程移植 | 第24-27页 |
| 3.4.2 软件系统架构 | 第27-28页 |
| 3.4.3 功能函数介绍 | 第28-30页 |
| 3.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 NFC-SIM 的验证测试 | 第31-65页 |
| 4.1 串行接口通讯模块的验证测试 | 第31-37页 |
| 4.1.1 SCI7816 测试 | 第31-35页 |
| 4.1.2 UART 测试 | 第35-37页 |
| 4.2 存储器的测试验证 | 第37-42页 |
| 4.2.1 flash 存储器的基本结构 | 第37-38页 |
| 4.2.2 nor-flash 的测试 | 第38-42页 |
| 4.3 SWP 模块测试 | 第42-56页 |
| 4.3.1 SWP 模块电气特性测试 | 第42-49页 |
| 4.3.2 SWP 模块时序以及功能测试 | 第49-56页 |
| 4.4 基于 SWP-HCI 的协议栈系统的 RNR 帧失效分析 | 第56-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-65页 |
| 第五章 工作总结 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |