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多晶硅厚膜的制备及性质分析

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-26页
    1.1 能源与环境第10-11页
        1.1.1 能源与环境问题第10页
        1.1.2 可再生能源的发展第10-11页
    1.2 太阳能利用的主要方式第11-18页
        1.2.1 光热利用第12-13页
        1.2.2 光化学转化第13-15页
        1.2.3 光伏发电第15-18页
    1.3 太阳能电池第18-25页
        1.3.1 太阳能电池分类第18-22页
        1.3.2 多晶硅太阳能电池第22-23页
        1.3.3 多晶硅厚膜第23-25页
    1.4 本论文的研究内容及安排第25-26页
第2章 多晶硅的制备系统与表征技术第26-34页
    2.1 制备系统第26-29页
        2.1.1 磁控溅射技术第26-27页
        2.1.2 快速热退火(RTA)系统第27-28页
        2.1.3 CVD系统第28-29页
    2.2 表征技术第29-33页
        2.2.1 X射线衍射第29-30页
        2.2.2 扫描电子显微镜第30-31页
        2.2.3 拉曼光谱分析第31-32页
        2.2.4 微波反射光电导衰减谱第32-33页
    2.3 本章小结第33-34页
第3章 石墨衬底上多晶硅薄膜籽晶层的制备第34-42页
    3.1 石墨衬底的选择第34-35页
    3.2 制备工艺第35-36页
        3.2.1 磁控溅射制备过程第35页
        3.2.2 快速热退火晶化过程第35-36页
    3.3 沉积多晶硅籽晶层最佳条件的探索第36-40页
        3.3.1 溅射时间的选择第36-37页
        3.3.2 溅射温度的选择第37-38页
        3.3.3 退火温度的选择第38-39页
        3.3.4 退火时间的选择第39-40页
    3.4 本章小结第40-42页
第4章 籽晶层上多晶硅厚膜的制备及分析第42-52页
    4.1 CVD制备工艺第42-43页
    4.2 多晶硅厚膜的表征和分析第43-47页
        4.2.1 多晶硅厚膜SEM分析第43-45页
        4.2.2 多晶硅厚膜XRD分析第45-46页
        4.2.3 μ-PCD谱测试表征第46-47页
    4.3 择优取向和结晶度的理论分析第47-50页
        4.3.1 谢乐公式分析第47-48页
        4.3.2 能量最低原理第48-50页
        4.3.3 成核理论第50页
    4.4 失配度和应力分析第50-51页
    4.5 本章小结第51-52页
第5章 结论与展望第52-54页
    5.1 论文总结第52页
    5.2 展望第52-54页
参考文献第54-60页
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果第60-61页
致谢第61页

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