| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 课题的研究意义 | 第14页 |
| 1.2 光学相控阵的研究进展 | 第14-20页 |
| 1.2.1 国外相关研究 | 第14-19页 |
| 1.2.2 国内相关研究 | 第19-20页 |
| 1.3 本论文的内容安排 | 第20-22页 |
| 第二章 光波导相控阵栅瓣抑制方法 | 第22-32页 |
| 2.1 光波导相控阵基本理论 | 第22-27页 |
| 2.1.1 光波导阵列芯片的结构 | 第22-23页 |
| 2.1.2 GaAs晶体的线性电光效应 | 第23-25页 |
| 2.1.3 光波导相控阵扫描原理 | 第25-27页 |
| 2.2 光波导相控阵输出光束栅瓣抑制方法 | 第27-29页 |
| 2.2.1 密度加权栅瓣压缩方法 | 第28-29页 |
| 2.2.2 相位加权栅瓣压缩方法 | 第29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-32页 |
| 第三章 光波导阵列非理想因素分析 | 第32-42页 |
| 3.1 光波导阵列芯片加工误差对输出光束特性的影响 | 第32-37页 |
| 3.1.1 横向尺寸误差对输出光束特性的影响 | 第32-34页 |
| 3.1.2 折射率误差对输出光束特性的影响 | 第34-35页 |
| 3.1.3 芯片电特性不均匀对输出光束特性的影响 | 第35-37页 |
| 3.2 非平面入射光波对输出光束特性的影响 | 第37-39页 |
| 3.2.1 入射光为高斯光束时对输出光束特性的影响 | 第37-38页 |
| 3.2.2 入射光方向和位置对输出光束特性的影响 | 第38-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-42页 |
| 第四章 光波导相控阵扫描光束的性能优化 | 第42-62页 |
| 4.1 光波导相控阵扫描光束特性的优化方法 | 第42-45页 |
| 4.1.1 基于爬山法的相位补偿 | 第42-43页 |
| 4.1.2 基于遍历法的相位补偿 | 第43-44页 |
| 4.1.3 基于模式搜索法的相位补偿 | 第44-45页 |
| 4.2 光波导相控阵扫描光束特性优化系统 | 第45-52页 |
| 4.2.1 图像采集模块 | 第47-48页 |
| 4.2.2 电控制模块 | 第48-49页 |
| 4.2.3 优化控制模块 | 第49-52页 |
| 4.3 光波导相控阵光束特性优化实验研究 | 第52-60页 |
| 4.3.1 光波导相控阵电光扫描实验系统 | 第52-53页 |
| 4.3.2 理论加电扫描光束特性 | 第53-58页 |
| 4.3.3 优化后扫描光束特性 | 第58-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 第五章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 作者简介 | 第70-71页 |