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星载激光告警系统抗单粒子效应加固设计研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第10-14页
    1.1 选题背景及研究目的及意义第10-11页
    1.2 课题的国内外研究现状第11-13页
        1.2.1 星载激光告警技术的国内外研究现状第11-12页
        1.2.2 抗单粒子效应设计方法的国内外研究现状第12-13页
    1.3 本论文的主要工作及课题来源第13-14页
2 抗单粒子效应及故障注入检测基本原理第14-28页
    2.1 光栅衍射型激光告警系统介绍第14-15页
    2.2 空间辐射环境第15-16页
    2.3 单粒子效应故障类型及表现形式第16-21页
        2.3.1 单粒子效应故障类型第16-17页
        2.3.2 FPGA故障表现形式第17-20页
        2.3.3 DSP故障表现形式第20-21页
    2.4 抗单粒子效应加固方法基本原理第21-24页
        2.4.1 三模冗余技术第22-23页
        2.4.2 配置刷新技术第23页
        2.4.3 反熔丝器件第23-24页
    2.5 故障注入技术基本原理第24-27页
        2.5.1 故障注入原理第24-26页
        2.5.2 故障注入技术分类第26-27页
    2.6 本章小结第27-28页
3 抗单粒子效应加固设计第28-40页
    3.1 FPGA抗单粒子效应加固设计第28-32页
        3.1.1 FPGA三模冗余设计第28-30页
        3.1.2 FPGA配置数据刷新设计第30-32页
    3.2 DSP抗单粒子效应加固设计第32-36页
        3.2.1 数据处理中的加固设计第33-34页
        3.2.2 DSP烧写程序和上电引导程序加固设计第34-36页
    3.3 系统硬件电路抗单粒子效应加固设计第36-39页
        3.3.1 DSP的“看门狗”电路设计第37-38页
        3.3.2 电源母线过流保护电路设计第38页
        3.3.3 DSP器件电源监控电路设计第38-39页
    3.4 本章小结第39-40页
4 单粒子事件故障注入第40-48页
    4.1 故障注入需要注意的问题第40页
    4.2 单粒子事件故障模型第40-42页
    4.3 单粒子事件故障注入系统第42-47页
        4.3.1 故障注入系统数据通道第43-44页
        4.3.2 主控计算机测试软件设计第44-46页
        4.3.3 故障注入器的设计第46-47页
    4.4 本章小结第47-48页
5 实验验证与分析第48-59页
    5.1 实验装置第48-49页
    5.2 单粒子事件故障注入测试实验第49-53页
        5.2.1 故障注入测试环境第50-51页
        5.2.2 故障注入测试实验及结果分析第51-53页
    5.3 重离子辐照故障注入实验第53-58页
        5.3.1 单粒子功能中断加固验证实验第53-56页
        5.3.2 单粒子锁定加固验证实验第56-58页
    5.4 本章小结第58-59页
6 总结与展望第59-61页
    6.1 研究总结第59页
    6.2 研究展望第59-61页
参考文献第61-65页
攻读硕士学位期间发表的论文第65-66页
致谢第66-67页

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