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ZnO基半导体及MESFET器件特性的MonteCarlo研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
符号对照表第10-13页
缩略语对照表第13-16页
第一章 绪论第16-22页
    1.1 研究背景及意义第16-17页
    1.2 国内外相关课题的研究进展第17-19页
    1.3 论文的主要研究内容第19-22页
第二章 ZnO和ZnMgO的基本结构与性质及Monte Carlo模型第22-32页
    2.1 ZnO的基本结构与特性第22-25页
        2.1.1 ZnO的晶体结构第22-23页
        2.1.2 ZnO的光学性质第23-24页
        2.1.3 压电特性第24-25页
    2.2 ZnMgO的基本结构和性质第25-26页
        2.2.1 ZnMgO的晶体结构第25-26页
        2.2.2 ZnMgO的光电性质第26页
        2.2.3 ZnMgO薄膜的应用第26页
    2.3 Monte Carlo模型在半导体中的应用第26-30页
    2.4 本章小结第30-32页
第三章 ZnO及ZnMgO材料电子输运特性的Monte Carlo模拟第32-44页
    3.1 能带结构第32页
    3.2 散射机制第32-37页
        3.2.1 电离杂质散射第32-33页
        3.2.2 声学波形变势散射第33-35页
        3.2.3 极性光学波散射第35-36页
        3.2.4 谷间散射第36页
        3.2.5 合金散射第36-37页
    3.3 ZnO输运特性MC数值研究第37-39页
        3.3.1 ZnO能带结构第37-38页
        3.3.2 漂移速度第38页
        3.3.3 低场迁移率第38页
        3.3.4 瞬态输运特性第38-39页
    3.4 ZnMgO的输运特性研究第39-42页
        3.4.1 ZnMgO能带结构第39-40页
        3.4.2 ZnMgO的稳态和瞬态输运特性第40-42页
    3.5 本章小结第42-44页
第四章 ZnO MESFET器件特性的二维Monte Carlo模拟第44-54页
    4.1 ZnO MESFET器件结构第44页
    4.2 Monte Carlo算法流程第44-49页
        4.2.1 确定初始条件第44-45页
        4.2.2 边界条件第45-46页
        4.2.3 有限差分法求解泊松方程第46-49页
    4.3 模拟结果与分析第49-53页
        4.3.1 常规ZnO MESFET器件特性第49-52页
        4.3.2 表面态对ZnO MESFET特性的影响第52-53页
    4.4 本章小结第53-54页
第五章 总结与展望第54-56页
参考文献第56-60页
致谢第60-62页
作者简介第62-63页

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