| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 非线性光学概述 | 第9页 |
| 1.2 光学克尔效应 | 第9-11页 |
| 1.3 非线性折射的主要起源 | 第11页 |
| 1.4 三阶非线性折射率的测量方法 | 第11-13页 |
| 1.5 Z-扫描测量技术的研究进展 | 第13-15页 |
| 1.6 本论文研究的主要内容 | 第15-17页 |
| 第二章 Z扫描测量技术的基本理论及相关改进技术 | 第17-37页 |
| 引言 | 第17页 |
| 2.1 Z扫描技术理论 | 第17-22页 |
| 2.2 高斯-贝塞尔Z扫描技术 | 第22-27页 |
| 2.3 Top-hat Z扫描方法 | 第27-32页 |
| 2.4 近top-hat Z扫描技术 | 第32-36页 |
| 2.5 小结 | 第36-37页 |
| 第三章 高灵敏度top-hat Z扫描方法理论研究 | 第37-44页 |
| 引言 | 第37页 |
| 3.1 实验装置 | 第37-38页 |
| 3.2 理论分析 | 第38-40页 |
| 3.3 理论模拟 | 第40-43页 |
| 3.3.1 半径不变，改变吸收膜的透过率 | 第40-41页 |
| 3.3.2 吸收率不变，改变吸收膜的半径 | 第41-43页 |
| 3.4 小结 | 第43-44页 |
| 第四章高灵敏度Z扫描测量方法实验分析 | 第44-49页 |
| 引言 | 第44页 |
| 4.1 实验条件 | 第44-45页 |
| 4.2 不同参数下的实验测量 | 第45-48页 |
| 4.2.1 对无吸收和完全吸收两种情况进行对比 | 第45页 |
| 4.2.2 进一步验证在几种不同的吸收下，灵敏度的变化 | 第45-47页 |
| 4.2.3 选取透过率相同，半径不同的膜，验证灵敏度随吸收半径的变化 | 第47-48页 |
| 4.3 小结 | 第48-49页 |
| 第五章 结论 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-55页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
