| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 热电材料的研究背景及进展 | 第8-9页 |
| 1.2 热电效应原理分析 | 第9-11页 |
| 1.2.1 Seebeck效应 | 第10-11页 |
| 1.3 热电性能的表征与测量 | 第11-12页 |
| 1.3.1 热电优值 | 第11-12页 |
| 1.3.2 商用热电参数测量仪器简介 | 第12页 |
| 1.4 热电器件的发电与致冷 | 第12-14页 |
| 第二章 热电测量系统 | 第14-24页 |
| 2.1 Seebeck系数测量 | 第14-21页 |
| 2.1.1 宏观Bi_2Se_3薄膜热电势测量 | 第18-19页 |
| 2.1.2 微尺度薄片Seebeck系数测量 | 第19-21页 |
| 2.2 绝缘块材热导率测量 | 第21-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24页 |
| 第三章 Bi_2Se_3纳米线的制备与转移 | 第24-29页 |
| 3.1 Bi_2Se_3纳米线的制备 | 第24-27页 |
| 3.2 Bi_2Se_3纳米线的转移 | 第27-28页 |
| 3.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 参考文献 | 第29-32页 |
| 致谢 | 第32页 |