运动粒子荧光寿命追踪技术研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 荧光寿命显微成像技术 | 第11-15页 |
| 1.2.1 荧光显微成像理论基础 | 第11-12页 |
| 1.2.2 荧光寿命成像理论基础 | 第12-15页 |
| 1.3 FLIM成像速度的提高 | 第15-19页 |
| 1.3.1 SPAD阵列探测技术 | 第15-18页 |
| 1.3.2 宽场光子计数技术 | 第18-19页 |
| 1.4 本论文的主要工作 | 第19-21页 |
| 第二章 AOD-FLIM技术原理及系统搭建 | 第21-30页 |
| 2.1 TCSPC-FLIM基本原理 | 第21-23页 |
| 2.2 AOD扫描原理及其色散补偿 | 第23-28页 |
| 2.3 TCSPC与AOD的同步原理 | 第28页 |
| 2.4 AOD-FLIM系统的搭建 | 第28-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 AOD系统优化和标定 | 第30-39页 |
| 3.1 同步方式对比与优化 | 第30-33页 |
| 3.1.1 单路同步 | 第30-31页 |
| 3.1.2 三路同步 | 第31-33页 |
| 3.2 均一环境的荧光寿命标定 | 第33-38页 |
| 3.2.1 固定样品寿命标定 | 第33-35页 |
| 3.2.2 均匀溶液样品寿命标定 | 第35-38页 |
| 3.3 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 运动粒子荧光寿命追踪 | 第39-60页 |
| 4.1 运动粒子荧光寿命追踪方案及系统搭建 | 第39-41页 |
| 4.2 系统控制 | 第41-56页 |
| 4.2.1 EMCCD控制 | 第41-45页 |
| 4.2.2 AOD寻址扫描控制 | 第45-53页 |
| 4.2.3 质心定位算法 | 第53-54页 |
| 4.2.4 运动粒子荧光寿命动态获取控制程序 | 第54-56页 |
| 4.3 运动粒子寿命追踪结果和分析 | 第56-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第66页 |
