| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-27页 |
| 1.1 引言 | 第12页 |
| 1.2 石墨烯 | 第12-19页 |
| 1.2.1 石墨烯的性质 | 第12-16页 |
| 1.2.2 石墨烯的应用 | 第16-17页 |
| 1.2.3 石墨烯的制备 | 第17-19页 |
| 1.2.3.1 机械剥离法 | 第17-18页 |
| 1.2.3.2 石墨氧化还原法 | 第18页 |
| 1.2.3.3 化学气相沉积法 | 第18页 |
| 1.2.3.4 碳化硅高温转化法 | 第18-19页 |
| 1.2.3.5 分子自组装生长法 | 第19页 |
| 1.3 本工作的研究目的、研究对象及研究内容 | 第19-21页 |
| 参考文献 | 第21-27页 |
| 第二章 实验手段和计算方法 | 第27-50页 |
| 2.1 引言 | 第27页 |
| 2.2 扫描隧道显微镜(STM)简介 | 第27-34页 |
| 2.2.1 STM基本原理 | 第28-31页 |
| 2.2.2 STM基本构造和工作原理 | 第31-33页 |
| 2.2.3 STM图像的影响因素 | 第33-34页 |
| 2.3 低能量电子衍射(LEED)简介 | 第34-37页 |
| 2.3.1 LEED基本原理 | 第34-36页 |
| 2.3.2 LEED实验装置 | 第36-37页 |
| 2.3.3 LEED适用范围 | 第37页 |
| 2.4 密度泛函理论 | 第37-47页 |
| 2.4.1 密度泛函理论基础 | 第38-40页 |
| 2.4.2 交换关联泛函 | 第40-42页 |
| 2.4.2.1 局域密度近似 | 第40-41页 |
| 2.4.2.2 广义梯度近似 | 第41-42页 |
| 2.4.3 赝势 | 第42-43页 |
| 2.4.4 色散力修正 | 第43页 |
| 2.4.5 布里渊区的特殊k点采样 | 第43-45页 |
| 2.4.6 计算软件介绍 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-50页 |
| 第三章 钌(?)表面自下而上方法组装石墨烯纳米结构 | 第50-75页 |
| 3.1 引言 | 第50-51页 |
| 3.2 实验与计算方法 | 第51-54页 |
| 3.3 结果和讨论 | 第54-69页 |
| 3.4 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 第四章 钌(0001)表面石墨烯自组装的扫描隧道显微镜及密度泛函理论研究 | 第75-93页 |
| 4.1 引言 | 第75-76页 |
| 4.2 实验与计算方法 | 第76-78页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第78-88页 |
| 4.4 结论 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-93页 |
| 第五章 钌(0001)表面石墨烯纳米点生长研究 | 第93-109页 |
| 5.1 引言 | 第93-94页 |
| 5.2 实验与计算方法 | 第94-95页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第95-105页 |
| 5.4 结论 | 第105-106页 |
| 参考文献 | 第106-109页 |
| 结论与展望 | 第109-111页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第111-112页 |
| 致谢 | 第112页 |