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β-Ga2O3薄膜制备与表征

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第12-13页
缩略语对照表第13-16页
第一章 绪论第16-26页
    1.1 氧化镓的晶体结构第16页
    1.2 氧化镓材料的光学与电学性质第16-19页
    1.3 氧化镓材料的国内外研究进程与应用第19-24页
        1.3.1 国外的研究第19-22页
        1.3.2 国内对氧化镓的研究状况第22-23页
        1.3.3 氧化镓材料的应用第23-24页
    1.4 本文的研究内容安排第24-26页
第二章 PLD薄膜生长设备及薄膜测试表征第26-38页
    2.1 脉冲激光沉积(pulse laser deposition,PLD)介绍第26-31页
        2.1.1 PLD技术发展及特点第26-27页
        2.1.2 PLD制膜技术的基本原理第27-29页
        2.1.3 PLD系统组成第29-31页
    2.2 论文涉及的薄膜表征方法第31-38页
        2.2.1 X射线衍射(X-ray diffraction, XRD)第31-32页
        2.2.2 原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)第32-33页
        2.2.3 X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)第33-34页
        2.2.4 透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)第34-35页
        2.2.5 光致发光谱(Photoluminescence,PL)第35-36页
        2.2.6 拉曼光谱(Ramam spectra)第36-37页
        2.2.7 椭圆偏振光谱仪第37-38页
第三章 蓝宝石上氧化镓薄膜生长与性质第38-56页
    3.1 PLD制备氧化镓薄膜的工艺流程第38-39页
    3.2 氧气分压与温度对外延氧化镓薄膜的影响第39-44页
    3.3 氧化镓薄膜成分和生长模式第44-49页
    3.4 C面蓝宝石上制备氧化镓薄膜的光学性质研究第49-55页
    3.5 本章小结第55-56页
第四章 同质外延 β-Ga_2O_3薄膜生长研究第56-64页
    4.1 XRD测试第56-60页
    4.2 Raman测试第60-61页
    4.3 AFM测试第61-62页
    4.4 本章小结第62-64页
第五章 总结第64-66页
    5.1 全文总结第64-65页
    5.2 展望第65-66页
参考文献第66-72页
致谢第72-74页
作者简介第74-75页

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