摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-10页 |
第1章 绪论 | 第10-33页 |
·引言 | 第10页 |
·铁电压电材料基础 | 第10-18页 |
·铁电性 | 第10-13页 |
·电滞回线和铁电相变 | 第10-11页 |
·电畴结构与极化反转 | 第11-13页 |
·压电性 | 第13-14页 |
·铁电材料的晶体结构 | 第14-18页 |
·钙钛矿型铁电体 | 第14-16页 |
·钨青铜型铁电体 | 第16页 |
·碱金属盐体系铁电体 | 第16-18页 |
·铋层状结构铁电体 | 第18页 |
·高温铁电压电材料的研究和进展 | 第18-26页 |
·高温铁电压电材料的研究进展 | 第18-21页 |
·钙钛矿结构容差因子 t | 第21-23页 |
·准同型相界 MPB | 第23-26页 |
·论文选题背景及主要研究内容 | 第26-33页 |
·BiScO_3-PbTiO_3体系高温压电材料研究进展 | 第26-32页 |
·BS-PT 的相图和结构 | 第26-27页 |
·BS-PT 陶瓷的制备工艺 | 第27-28页 |
·BS-PT 的最新研究进展 | 第28-32页 |
·本论文的研究内容 | 第32-33页 |
第2章 BS-PT 基压电陶瓷的制备工艺及表征方法 | 第33-42页 |
·引言 | 第33页 |
·样品制备工艺 | 第33-37页 |
·原料的选择 | 第33-34页 |
·混料和球磨 | 第34-35页 |
·预烧 | 第35页 |
·造粒、过筛和成型 | 第35页 |
·排胶和烧结 | 第35-36页 |
·被电极和极化 | 第36-37页 |
·样品的结构分析与性能表征方法 | 第37-42页 |
·X 射线衍射分析 (XRD) | 第37页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第37页 |
·介电性能测试 | 第37-38页 |
·压电常数 d_(33)的测试 | 第38页 |
·机电耦合系数 k 与机械品质因数 Q_m的测试 | 第38-40页 |
·铁电性能测试 | 第40页 |
·应力应变测试 | 第40页 |
·介电可调性测试 | 第40-41页 |
·热释电测试 | 第41页 |
·极化后放电测试 | 第41-42页 |
第3章 制备工艺对 0.36BS-0.64PT 压电陶瓷结构与性能的影响 | 第42-60页 |
·引言 | 第42页 |
·样品的制备 | 第42-43页 |
·样品结构特性分析 | 第43-44页 |
·显微结构分析 | 第44-47页 |
·压电性能 | 第47-50页 |
·压电常数 | 第47页 |
·谐振反谐振 | 第47-50页 |
·介电性能 | 第50-54页 |
·铁电相变 | 第50-51页 |
·偏压下介电性能 | 第51-54页 |
·铁电性 | 第54-58页 |
·本章小结 | 第58-60页 |
第4章 0.36BS-0.64PT 压电陶瓷性能的温度依赖 | 第60-66页 |
·引言 | 第60页 |
·偏压下介电性能随温度变化 | 第60-61页 |
·铁电性能随温度变化 | 第61-64页 |
·极化后放电(去极化电流) | 第64-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
第5章 0.36Bi(Sc_(0.99)Ga_(0.01))O_3-0.64PbTiO_3的结构与性能研究 | 第66-80页 |
·0.36Bi(Sc_(0.99)Ga_(0.01))O_3-0.64PbTiO_3的组成设计 | 第66页 |
·0.36Bi(Sc_(0.99)Ga_(0.01))O_3-0.64PbTiO_3陶瓷样品的制备 | 第66页 |
·样品结构特性分析 | 第66-67页 |
·显微结构分析 | 第67-68页 |
·压电性能 | 第68-70页 |
·压电常数 | 第68-69页 |
·谐振反谐振 | 第69-70页 |
·介电性能 | 第70-73页 |
·铁电相变 | 第70-71页 |
·偏压下介电性能 | 第71-73页 |
·铁电性 | 第73-74页 |
·高温下介电、铁电性能 | 第74-78页 |
·偏压下介电性能随温度变化 | 第74-76页 |
·铁电性能随温度变化 | 第76-78页 |
·本章小结 | 第78-80页 |
第6章 全文总结与展望 | 第80-82页 |
·全文总结 | 第80-81页 |
·展望 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-90页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第90-91页 |
致谢 | 第91-92页 |