摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-26页 |
·课题背景与意义 | 第9-10页 |
·量子点的基本概念 | 第10-14页 |
·纳米效应 | 第10-12页 |
·量子点的荧光性能 | 第12-13页 |
·量子点的应用 | 第13-14页 |
·疲劳断裂的简介 | 第14-16页 |
·传统测量微裂纹的方法 | 第16-20页 |
·光纤声发射检测技术 | 第16-17页 |
·电位法检测技术 | 第17-18页 |
·常规无损检测技术 | 第18-20页 |
·稀土元素发光检测裂纹技术 | 第20-24页 |
·稀土发光材料 | 第20-21页 |
·稀土发光材料的发光原理 | 第21-22页 |
·稀土发光材料在检测裂纹中的应用 | 第22-24页 |
·本文的研究目的与内容 | 第24-26页 |
·研究目的 | 第24页 |
·研究内容 | 第24-26页 |
第2章 实验设备与表征方法 | 第26-31页 |
·实验试样及药品 | 第26页 |
·实验仪器和设备 | 第26-27页 |
·实验的表征方法 | 第27-31页 |
第3章 量子点荧光检测陶瓷涂层疲劳开裂 | 第31-39页 |
·前言 | 第31页 |
·涂层的制备与工艺 | 第31-33页 |
·陶瓷涂层疲劳开裂研究 | 第33-38页 |
·实验步骤 | 第33-34页 |
·实验结果与讨论 | 第34-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
第4章 量子点荧光检测氧化铝陶瓷疲劳开裂 | 第39-50页 |
·引言 | 第39页 |
·氧化铝陶瓷疲劳裂纹研究 | 第39-42页 |
·实验步骤 | 第39-40页 |
·实验结果与讨论 | 第40-42页 |
·时间变化对荧光强度的影响研究 | 第42-43页 |
·温度变化对荧光强度的影响研究 | 第43-45页 |
·陶瓷厚度变化对荧光强度的影响研究 | 第45-49页 |
·实验步骤 | 第45页 |
·不同厚度试样荧光强度值及变化 | 第45-49页 |
·厚度变化对荧光强度变化的影响 | 第49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第5章 荧光强度与应力分布关系研究 | 第50-61页 |
·引言 | 第50页 |
·ANSYS的一般分析过程 | 第50-51页 |
·疲劳分析概述 | 第51-52页 |
·ANSYS模拟疲劳开裂后应力分布 | 第52-56页 |
·前处理 | 第52-54页 |
·定义载荷步并求解 | 第54-55页 |
·后处理 | 第55页 |
·结果分析与讨论 | 第55-56页 |
·应力强度与荧光强度关系研究 | 第56-57页 |
·厚度比变化时尖端处应力强度和荧光强度变化关系研究 | 第57-60页 |
·厚度比变化时尖端处应力强度变化 | 第57-60页 |
·厚度比变化时尖端处荧光强度变化 | 第60页 |
·分析与讨论 | 第60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第6章 总结与展望 | 第61-63页 |
·总结 | 第61页 |
·创新点 | 第61页 |
·展望与建议 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-68页 |
致谢 | 第68页 |