基于LabVIEW的存储器测试系统设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| ·选题背景 | 第12页 |
| ·器件可靠性的重要作用 | 第12-13页 |
| ·自动测试技术 | 第13-16页 |
| ·虚拟仪器技术 | 第13-14页 |
| ·虚拟仪器技术优点及发展方向 | 第14-16页 |
| ·整体设计思路及实现手段 | 第16页 |
| ·论文的结构安排 | 第16-18页 |
| 第2章 集成电路测试技术 | 第18-29页 |
| ·集成电路测试技术及发展 | 第18-19页 |
| ·测试的原理及种类 | 第18-19页 |
| ·集成电路测试技术的发展方向 | 第19页 |
| ·可测性设计的重要性 | 第19-20页 |
| ·可测性设计的方法分析 | 第20-23页 |
| ·扫描设计 | 第20-21页 |
| ·边界扫描测试 | 第21-22页 |
| ·内建自测试 | 第22-23页 |
| ·存储器的分类 | 第23-24页 |
| ·存储器的故障模型与算法研究 | 第24-27页 |
| ·存储器的故障类型 | 第24-26页 |
| ·存储器的测试使用算法 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 地面模拟空间实验环境下测试方案规划 | 第29-36页 |
| ·空间粒子辐射效应 | 第29-31页 |
| ·空间粒子效应的影响 | 第29页 |
| ·单粒子效应的种类 | 第29-30页 |
| ·空间环境地面实验 | 第30-31页 |
| ·系统规划分析与设计 | 第31-35页 |
| ·测试系统的应用需求 | 第31-33页 |
| ·测试电路系统设计规划 | 第33-34页 |
| ·计算机测试系统设计规划 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 测试系统设计与总体实现 | 第36-58页 |
| ·测试电路系统设计 | 第36-43页 |
| ·UART模块设计 | 第36-37页 |
| ·测试电路接口通讯格式定义 | 第37-40页 |
| ·功能测试条件下March算法的状态机实现 | 第40-41页 |
| ·地址产生器 | 第41-42页 |
| ·读写控制器 | 第42-43页 |
| ·计算机监测系统设计 | 第43-57页 |
| ·LabVIEW图形化编程平台 | 第43-44页 |
| ·LabVIEW的设计模式讨论 | 第44-48页 |
| ·仪器总线控制 | 第48-49页 |
| ·仪器驱动 | 第49-50页 |
| ·分立仪器的控制操作机控制指令 | 第50-51页 |
| ·界面的设计实现 | 第51-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 系统总体实现及结果验证 | 第58-63页 |
| ·行为功能仿真及FPGA验证 | 第58-60页 |
| ·行为功能仿真 | 第58-59页 |
| ·FPGA功能验证 | 第59-60页 |
| ·LabVIEW控制平台实现 | 第60-61页 |
| ·整个测试平台运行 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第69页 |
