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高速PCB电源完整性研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-9页
第一章 绪论第9-13页
   ·电源完整性问题产生的根源及其研究意义第9-10页
   ·国内外研究现状第10-11页
   ·论文的主要工作及结构安排第11-13页
     ·本论文的主要工作第11页
     ·本论文的结构安排第11-13页
第二章 电源完整性的基本理论第13-31页
   ·电源分配网络的组成第13-20页
     ·电压调节模块(VRM)第14-15页
     ·去耦电容器第15-19页
     ·PCB电源、地平面第19-20页
     ·芯片电源分配网络(PDN)第20页
   ·同步开关噪声分析第20-25页
     ·芯片内部开关噪声第21-23页
     ·芯片外部开关噪声第23-24页
     ·等效电工衡量同步开关噪声第24-25页
   ·基于目标阻抗的电源分配网络设计方法第25-30页
     ·确定目标阻抗第27-28页
     ·确定电源系统的目标频率第28页
     ·选择去耦电容器第28-30页
   ·本章小结第30-31页
第三章 高速PCB板级仿真第31-49页
   ·此项目电源完整性仿真的目的第31-41页
     ·仿真项目第31-33页
     ·主要芯片参数分析第33-36页
     ·VARM电源的特性分析第36-40页
     ·失败案例分析第40-41页
   ·仿真第41-44页
     ·仿真流程第41-42页
     ·仿真图的搭建第42-44页
   ·SIWAVE提取PCB板S参数第44页
   ·仿真文件的搭建第44-45页
   ·电源仿真及仿真结果分析第45-48页
   ·本章小结第48-49页
第四章 高速PCB的板级仿真分析第49-58页
   ·仿真分析概述第49页
   ·PCB分析第49-53页
     ·VARM原理图分析第49-50页
     ·PCB走线图分析第50-51页
     ·仿真对比第51-52页
     ·仿真分析第52-53页
     ·PCB布线总结第53页
   ·电容器容值的影响第53-56页
     ·电容的选择第53页
     ·电容器的模型参数第53-54页
     ·电容器容值系列变化第54-55页
     ·电容器容值变化分析第55-56页
     ·电容器容值总结第56页
   ·仿真后测试验证第56-57页
   ·本章小结第57-58页
第五章 总结与展望第58-60页
   ·总结第58-59页
   ·展望第59-60页
致谢第60-61页
参考文献第61-62页

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