| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-16页 |
| ·课题背景 | 第7-8页 |
| ·国内外的发展现状和发展趋势 | 第8-15页 |
| ·电子功能模件的自动测试 | 第8-10页 |
| ·边界扫描技术 | 第10-12页 |
| ·虚拟仪器和USB 总线技术 | 第12-15页 |
| ·主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 IEEE1149.4 的要点剖析及系统总体设计 | 第16-40页 |
| ·IEEE1149.4 协议标准及要点剖析 | 第16-30页 |
| ·混合边界扫描测试的基本原理 | 第16-17页 |
| ·元件的基本结构 | 第17-18页 |
| ·数字边界扫描模块DBM | 第18-19页 |
| ·模拟边界扫描模块ABM | 第19-23页 |
| ·测试总线接口电路TBIC | 第23-27页 |
| ·模拟边界扫描的指令剖析 | 第27-30页 |
| ·混合边界扫描的主要测试形式 | 第30-37页 |
| ·完备性测试 | 第30-31页 |
| ·功能测试 | 第31页 |
| ·互连测试 | 第31-36页 |
| ·簇测试 | 第36-37页 |
| ·混合边界扫描测试系统的总体设计 | 第37-39页 |
| ·数字边界扫描测试的工作过程 | 第38页 |
| ·模拟边界扫描测试的工作过程 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第3章 混合边界扫描控制器的开发 | 第40-52页 |
| ·混合边界扫描的功能需求分析 | 第40-41页 |
| ·混合边界扫描控制器的总体设计 | 第41页 |
| ·混合边界扫描控制器功能模块的实施要点 | 第41-51页 |
| ·SOC核心控制器模块开发 | 第42-43页 |
| ·数字边界扫描模块开发 | 第43-44页 |
| ·可程控电压/电流源模块开发 | 第44-49页 |
| ·模拟信号数据采集模块的开发 | 第49-50页 |
| ·电源模块开发 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 固件和上层软件开发 | 第52-65页 |
| ·主要固件程序模块开发 | 第52-60页 |
| ·数字边界扫描模块固件开发 | 第52-53页 |
| ·I~2C固件开发 | 第53-54页 |
| ·SPI固件开发 | 第54-57页 |
| ·三线固件开发 | 第57-59页 |
| ·A/D固件开发 | 第59-60页 |
| ·上层软件设计与开发 | 第60-63页 |
| ·软件设计思想和结构 | 第60-62页 |
| ·虚拟仪器面板设计 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第5章 被测电路的可测性设计和应用示例 | 第65-82页 |
| ·数字信号被测电路的可测性设计 | 第65-73页 |
| ·核心芯片的选用 | 第65-66页 |
| ·被测电路的构建 | 第66-67页 |
| ·测试过程和结果 | 第67-70页 |
| ·在线边界扫描调试仪器的再开发 | 第70-73页 |
| ·模拟信号被测电路的可测性设计 | 第73-81页 |
| ·核心芯片的选用 | 第73-74页 |
| ·被测电路的可测性构建 | 第74-75页 |
| ·测试过程和结果 | 第75-81页 |
| ·STA400 的边界扫描特性分析 | 第81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 结论 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第86-88页 |
| 致谢 | 第88页 |