| 第一章 绪论 | 第1-10页 |
| 1．1 研究目的与意义 | 第7-8页 |
| 1．2 国内外研究现状 | 第8页 |
| 1．3 本论文的研究内容 | 第8-10页 |
| 第二章 电路板通用自动测试系统总体设计 | 第10-25页 |
| 2．1 电路板测试系统概述 | 第10-15页 |
| 2．1．1 电路板测试概述 | 第10-13页 |
| 2．1．2 测试系统的一般设计过程 | 第13-15页 |
| 2．2 测试系统的设计目标 | 第15-16页 |
| 2．3 电路板层次结构模型 | 第16-18页 |
| 2．3．1 电路板综合分析 | 第16-17页 |
| 2．3．2 故障检测及诊断模型 | 第17-18页 |
| 2．4 测试系统总体方案设计 | 第18-24页 |
| 2．4．1 通用性设计 | 第18-19页 |
| 2．4．2 测试系统软硬件划分 | 第19-20页 |
| 2．4．3 测试系统硬件总体设计 | 第20-22页 |
| 2．4．4 测试系统软件总体设计 | 第22-24页 |
| 2．5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 测试系统的信号辨识技术研究 | 第25-34页 |
| 3．1 基于DFT的余（正）弦信号频率参数的识别 | 第25-29页 |
| 3．1．1 DFT的一般描述 | 第25-27页 |
| 3．1．2 基于DFT的余弦（正弦）信号的频率识别 | 第27-28页 |
| 3．1．3 测试系统中的实现及结果 | 第28-29页 |
| 3．2 基于RBF函数神经网络的模拟信号辨识 | 第29-33页 |
| 3．2．1 神经网络的特点 | 第29-31页 |
| 3．2．2 径向基函数（RBF）网络结构 | 第31-32页 |
| 3．2．3 计算机仿真的过程及结果 | 第32-33页 |
| 3．3 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 测试系统的故障诊断方法研究 | 第34-48页 |
| 4．1 逻辑电路故障诊断方法 | 第34-39页 |
| 4．1．1 传统的逻辑电路诊断方法及比较 | 第34-38页 |
| 4．1．2 基于伪穷举测试生成的故障字典法 | 第38-39页 |
| 4．2 模拟电路故障诊断方法 | 第39-44页 |
| 4．2．1 模拟电路的特点 | 第39-40页 |
| 4．2．2 传统的模拟电路诊断方法及比较 | 第40-41页 |
| 4．2．3 模糊故障字典法 | 第41-44页 |
| 4．3 几种特殊数字芯片故障检测方法 | 第44-47页 |
| 4．3．1 微处理器的分析检测方法—ALE测试法 | 第45页 |
| 4．3．2 EPROM的分析检测方法—和数校验法 | 第45-46页 |
| 4．3．3 RAM的分析检测方法 | 第46-47页 |
| 4．4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 电路板通用自动测试系统的实现 | 第48-66页 |
| 5．1 硬件系统的实现 | 第48-52页 |
| 5．1．1 硬件模块功能介绍 | 第49页 |
| 5．1．2 测试夹具与被测电路板的连接 | 第49-51页 |
| 5．1．3 硬件接口信号连接 | 第51-52页 |
| 5．2 软件系统的实现 | 第52-65页 |
| 5．2．1 软件系统的构成 | 第52页 |
| 5．2．2 软件系统的实现 | 第52-62页 |
| 5．2．3 测试系统实现过程中遇到的问题 | 第62-65页 |
| 5．3 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 电路板通用自动测试系统应用实例 | 第66-76页 |
| 6．1 信号发生器板简介 | 第66-67页 |
| 6．2 测试任务描述 | 第67-71页 |
| 6．2．1 静态测试 | 第67-68页 |
| 6．2．2 动态测试 | 第68-69页 |
| 6．2．3 故障定位 | 第69-71页 |
| 6．3 与测试系统的连接 | 第71-73页 |
| 6．4 测试过程和结果分析 | 第73-76页 |
| 第七章 总结与展望 | 第76-79页 |
| 致 谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |