基于光纤环形腔衰荡光谱技术的双通道微弯应力传感器
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 中文文摘 | 第4-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·腔衰荡光谱技术的研究进展 | 第10-12页 |
| ·本论文的主要工作 | 第12-15页 |
| 第2章 光纤环形腔衰荡光谱技术 | 第15-27页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·腔衰荡光谱技术 | 第15-18页 |
| ·工作原理 | 第15-17页 |
| ·优缺点 | 第17-18页 |
| ·光纤的基本特性 | 第18-25页 |
| ·光纤的基本结构 | 第18-19页 |
| ·光纤的分类 | 第19-21页 |
| ·光纤的射线光学理论 | 第21-24页 |
| ·光纤的损耗 | 第24-25页 |
| ·光纤环形腔衰荡光谱技术 | 第25-26页 |
| ·工作原理 | 第25-26页 |
| ·优点 | 第26页 |
| ·小结 | 第26-27页 |
| 第3章 光纤的弯曲损耗理论 | 第27-37页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·宏弯损耗理论 | 第27-29页 |
| ·微弯损耗理论 | 第29-35页 |
| ·射线理论 | 第29-31页 |
| ·模式耦合理论 | 第31-35页 |
| ·小结 | 第35-37页 |
| 第4章 FLRDS在光纤损耗测量中的应用 | 第37-47页 |
| ·引言 | 第37页 |
| ·实验原理 | 第37-38页 |
| ·吸收损耗 | 第37-38页 |
| ·宏弯损耗 | 第38页 |
| ·系统设计 | 第38-41页 |
| ·系统稳定性测量 | 第41-42页 |
| ·实验测量与结果分析 | 第42-45页 |
| ·吸收损耗测量 | 第42-43页 |
| ·宏弯损耗测量 | 第43-45页 |
| ·小结 | 第45-47页 |
| 第5章 双通道FLRDS微弯压力传感器 | 第47-61页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·微弯压力传感器 | 第47-50页 |
| ·基本原理 | 第47-48页 |
| ·最佳齿间距 | 第48-50页 |
| ·FLRDS微弯压力传感器的实验原理 | 第50-51页 |
| ·变形齿设计 | 第51页 |
| ·系统设计 | 第51-52页 |
| ·系统性能测试 | 第52-55页 |
| ·齿间距对微弯压力传感器的影响 | 第52-53页 |
| ·温度对微弯压力传感器的影响 | 第53-54页 |
| ·重复性测量 | 第54-55页 |
| ·双通道FLRDS微弯压力传感器 | 第55-58页 |
| ·系统设计 | 第55-56页 |
| ·工作原理 | 第56-57页 |
| ·实验结果与分析 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-70页 |
| 攻读学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 个人简历 | 第72-73页 |
