| 提要 | 第1-6页 |
| 第一章 引言 | 第6-9页 |
| ·概述 | 第6-8页 |
| ·文章的内容和框架 | 第8-9页 |
| 第二章 背景介绍 | 第9-14页 |
| ·基于噪声的半导体可靠性筛选 | 第9-12页 |
| ·噪声功率谱成分的定性分析 | 第12-14页 |
| 第三章 相关知识 | 第14-23页 |
| ·R~2中的距离函数 | 第14-18页 |
| ·R~3中的距离函数 | 第18-20页 |
| ·平方距离函数及其二次近似 | 第20-23页 |
| 第四章 理论与方法 | 第23-41页 |
| ·基于平方距离函数最小化的曲线拟合 | 第23-28页 |
| ·点云数据到噪声功率谱函数曲线的拟合 | 第28-31页 |
| ·计算实例与结果分析 | 第31-41页 |
| 第五章 总结与展望 | 第41-43页 |
| ·内容总结 | 第41-42页 |
| ·展望 | 第42-43页 |
| 参考文献 | 第43-46页 |
| 中文摘要 | 第46-50页 |
| Abstract | 第50-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 导师及作者简介 | 第56页 |