基于S3C44B0的半导体分立器件测试系统的开发
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第8-9页 |
| ·课题的背景 | 第8页 |
| ·课题的研究意义 | 第8-9页 |
| ·半导体分立器件测试设备国内外发展现状 | 第9-10页 |
| ·嵌入式技术概况 | 第10-13页 |
| ·嵌入式系统的概念 | 第10-11页 |
| ·嵌入式处理器概况 | 第11-13页 |
| ·论文的主要内容 | 第13-15页 |
| 第二章 分立器件测试系统方案设计 | 第15-20页 |
| ·分立器件测试系统的总体 | 第15-16页 |
| ·分立器件测试系统测试主机设计方案 | 第16-20页 |
| ·半导体分立器件的测试参数 | 第16页 |
| ·半导体分立器件的测试回路 | 第16-17页 |
| ·测试主机的架构 | 第17-20页 |
| 第三章 分立器件测试系统测试主机相关硬件设计 | 第20-40页 |
| ·测试主机CPU 板设计 | 第20-30页 |
| ·测试主机CPU 的选型及CPU 板的总体结构 | 第20-27页 |
| ·存储系统的设计 | 第27-28页 |
| ·UART 接口电路设计 | 第28-29页 |
| ·JTAG 接口电路设计 | 第29-30页 |
| ·测试主机总线转换板设计 | 第30-34页 |
| ·测试主机总线转换板的作用 | 第30页 |
| ·测试主机总线转换板的电路设计 | 第30-34页 |
| ·测试主机A/D 及D/A 板设计 | 第34-40页 |
| ·测试主机D/A 及A/D 板的数字控制电路 | 第34-36页 |
| ·D/A 及A/D 板的数模转换电路 | 第36-38页 |
| ·D/A 及A/D 板的模数转换电路 | 第38-40页 |
| 第四章 分立器件测试系统相关软件设计 | 第40-54页 |
| ·S3C4480 的启动程序设计 | 第40-44页 |
| ·启动程序BootLoader 简介 | 第40页 |
| ·S3C4480 的启动程序设计及I/O 口配置 | 第40-44页 |
| ·相关用户应用程序设计 | 第44-54页 |
| ·工艺参数的编辑和发送 | 第44-48页 |
| ·工艺参数的存储实现和底层控制程序的编写 | 第48-54页 |
| 第五章 分立器件测试系统分选机的功能实现 | 第54-61页 |
| ·分立器件测试系统分选机的系统组成 | 第54-56页 |
| ·分选机的机构组成 | 第54-56页 |
| ·分选机的控制系统组成 | 第56页 |
| ·分立器件测试系统分选机控制功能实现 | 第56-61页 |
| ·可编程逻辑控制器概述[44][45][46] | 第57页 |
| ·可编程逻辑控制器的控制梯形图设计 | 第57-61页 |
| 第六章 总结 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第65页 |
