| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·传感器实现的途径 | 第11-12页 |
| ·非集成化实现 | 第11页 |
| ·集成化实现 | 第11页 |
| ·混合实现 | 第11-12页 |
| ·温度传感器及其发展历程 | 第12-13页 |
| ·温度传感器特性 | 第13页 |
| ·温度传感器的应用领域 | 第13-14页 |
| ·国内外CMOS温度传感器的发展、现状和未来 | 第14-15页 |
| ·本论文的主要工作 | 第15-16页 |
| 第2章 MOSFET的亚阈值温度模型与CMOS工艺中的BJT和电阻 | 第16-23页 |
| ·MOS器件的亚阈值模型 | 第16-17页 |
| ·CMOS工艺下的双极型晶体管(BJT) | 第17-21页 |
| ·衬底PNP管V_(EB)信号 | 第18-19页 |
| ·与绝对温度成正比的电压 | 第19-21页 |
| ·串联电阻 | 第19-20页 |
| ·电流增益变化 | 第20页 |
| ·大注入效应 | 第20页 |
| ·Early效应 | 第20-21页 |
| ·衬底PNP管压电效应对温度传感器的影响 | 第21页 |
| ·CMOS工艺下的电阻 | 第21-23页 |
| 第3章 CMOS温度传感器及其电路的设计 | 第23-33页 |
| ·集成温度传感器结构 | 第23-24页 |
| ·热传导模型及最大耗散功率计算 | 第24-25页 |
| ·带隙基准原理 | 第25-26页 |
| ·正温度系数电流获取电路原理与设计 | 第26-29页 |
| ·PTAT电流获取原理 | 第26-27页 |
| ·PTAT电路设计 | 第27-29页 |
| ·负温度系数电流获取电路原理与设计 | 第29-31页 |
| ·CTAT电流获取原理 | 第29-30页 |
| ·CTAT电路设计 | 第30-31页 |
| ·电路仿真结果 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第4章 一阶Σ-Δ调制电路设计 | 第33-55页 |
| ·Σ-Δ A／D转换原理 | 第33-36页 |
| ·电路结构及原理 | 第36-39页 |
| ·基本电路设计 | 第39-48页 |
| ·电压比较器的设计 | 第39-42页 |
| ·电压基准源的设计 | 第42-45页 |
| ·电压基准源阻抗变化与输出电路的设计 | 第45-47页 |
| ·设计思路 | 第45-46页 |
| ·电路结构 | 第46-47页 |
| ·开关电路 | 第47-48页 |
| ·加入温度传感电路后的Σ-Δ调制输出电路仿真 | 第48-51页 |
| ·非线性校正 | 第51-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第5章 数字部分电路设计 | 第55-66页 |
| ·数字滤波器结构与原理 | 第55-57页 |
| ·带锁存功能的计数器设计 | 第57-63页 |
| ·CMOS异步计数器结构与原理 | 第57页 |
| ·可清零／置位的D触发器与D锁存器设计 | 第57-59页 |
| ·CMOS反相器和CMOS与非门的设计 | 第59-61页 |
| ·MOS开关 | 第61-62页 |
| ·窄脉冲发生电路 | 第62-63页 |
| ·时序仿真 | 第63-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 第6章 影响电路性能的因素及改进方法 | 第66-71页 |
| ·电流镜的影响与改善 | 第66-68页 |
| ·基本电流镜 | 第66-67页 |
| ·共源共栅电流镜 | 第67-68页 |
| ·MOS开关对电路的影响以及改善 | 第68-69页 |
| ·沟道电荷注入 | 第68页 |
| ·时钟馈通 | 第68-69页 |
| ·KT／C噪声 | 第69页 |
| ·改进方法 | 第69页 |
| ·版图设计 | 第69-71页 |
| ·电阻设计 | 第69-70页 |
| ·衬底双极型晶体管设计 | 第70页 |
| ·匹配器件的对称设计 | 第70-71页 |
| 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 附录A (攻读学位期间所发表学术论文目录) | 第77-78页 |
| 附录B 论文中常用符号 | 第78页 |