| 第一章 绪论 | 第1-12页 |
| ·铁电体及铁电存储器的发展历史 | 第6-7页 |
| ·铁电存储器与其它存储器比较——铁电存储器是最具有潜力的存储器之一 | 第7-11页 |
| ·铁电电容模型研究的目的、意义和方法及本文的结构 | 第11-12页 |
| 第二章 铁电电容的性能描述方法 | 第12-23页 |
| ·铁电体及其性能 | 第12-14页 |
| ·铁电电容的性能描述 | 第14-17页 |
| ·铁电电容的Q～V特性及其相关参数 | 第14-16页 |
| ·铁电电容的I～V特性及其相关参数 | 第16页 |
| ·铁电电容的C～V特性及其相关参数 | 第16-17页 |
| ·铁电电容的等效电路 | 第17页 |
| ·电畴电容的性能描述 | 第17-18页 |
| ·电畴电容的Q～V特性及其相关参数 | 第17-18页 |
| ·电畴电容的I～V特性及其相关参数 | 第18页 |
| ·电畴电容的C～V特性及其相关参数 | 第18页 |
| ·铁电电容Q～V、I～V和C～V特性之间的关系 | 第18-22页 |
| ·电畴电容Q～V、I～V和C～V特性之间的关系 | 第19页 |
| ·铁电电容和电畴电容之间的关系 | 第19-21页 |
| ·铁电电容Q～V、I～V和C～V特性之间的关系 | 第21-22页 |
| ·结果讨论 | 第22-23页 |
| 第三章 铁电电容的性能测试方法 | 第23-43页 |
| ·铁电电容与普通电容的比较 | 第23-24页 |
| ·铁电电容性能测试的基本原理 | 第24-27页 |
| ·铁电电容与线性电容串联电路 | 第25页 |
| ·铁电电容与线性电阻串联电路 | 第25-26页 |
| ·RT66a的测试原理 | 第26-27页 |
| ·两种铁电电容性能测试电路比较 | 第27页 |
| ·现有测试方法的不足 | 第27-30页 |
| ·测试电路的误差 | 第28页 |
| ·铁电电容初始电荷Q_r的确定办法 | 第28-29页 |
| ·铁电电容与线性电阻串联电路测试电滞回线有开口的原因 | 第29-30页 |
| ·铁电电容与线性电容串联电路测试电滞回线无开口的原因 | 第30页 |
| ·我们的测试系统 | 第30-33页 |
| ·铁电电容电压、电荷、电流和电容值的测量和计算 | 第31页 |
| ·消除现有测试方法的误差 | 第31-32页 |
| ·铁电电容的对称分量 | 第32-33页 |
| ·实验验证 | 第33-39页 |
| ·我们的测试系统的准确性 | 第34-37页 |
| ·电滞回线开口原因的验证 | 第37-39页 |
| ·铁电电容的对称分量 | 第39-41页 |
| ·铁电电容的对称分量 | 第39-40页 |
| ·铁电电容对称分量的C～V、I～V、Q～V特性曲线之间关系的实验分析 | 第40-41页 |
| ·结果分析与讨论 | 第41-43页 |
| 第四章 现有铁电电容建模方法和模型 | 第43-55页 |
| ·现有铁电电容模型概述 | 第43-44页 |
| ·铁电电容的理论模型 | 第43页 |
| ·铁电电容的经验模型 | 第43-44页 |
| ·铁电电容的电路模型 | 第44页 |
| ·Miller建模方法及其模型 | 第44-46页 |
| ·Miller建模方法 | 第44-45页 |
| ·Miller模型 | 第45-46页 |
| ·Miller模型的讨论 | 第46页 |
| ·Lim模型 | 第46-49页 |
| ·铁电电容的畴 | 第46-47页 |
| ·Lim模型 | 第47-49页 |
| ·Lim模型讨论 | 第49页 |
| ·基于Preisach理论的电偶极子模型 | 第49-52页 |
| ·Preisach理论 | 第49-51页 |
| ·Preisach理论应用于铁电电容 | 第51-52页 |
| ·铁电电容的电路模型 | 第52-53页 |
| ·应用于MINIMOS-NT的铁电电容模型 | 第52页 |
| ·应用于Eldo的铁电电容模型 | 第52-53页 |
| ·应用于HSPICE和PSPICE的铁电电容模型 | 第53页 |
| ·现有模型分析与讨论 | 第53-55页 |
| 第五章 我们的铁电电容建模方法及模型 | 第55-70页 |
| ·实验结果及分析 | 第55-57页 |
| ·我们的铁电电容建模方法 | 第57-65页 |
| ·铁电电容的等效电路 | 第57-58页 |
| ·电畴电容的电荷、电压 | 第58-61页 |
| ·铁电电容的电荷、电流、电容与电压的关系 | 第61页 |
| ·电畴电容畴矫顽电压概率密度函数的选择方法 | 第61-65页 |
| ·我们的铁电电容模型 | 第65页 |
| ·模型应用 | 第65-69页 |
| ·不同幅度激励作用下PZT电容的响应 | 第65-67页 |
| ·不同幅度激励作用下SBT电容的响应 | 第67-69页 |
| ·实验结论 | 第69页 |
| ·模型的分析与讨论 | 第69-70页 |
| 第六章 结论与展望 | 第70-72页 |
| ·本文的主要工作及独创性 | 第70-71页 |
| ·进一步的工作 | 第71-72页 |
| 附录 | 第72-76页 |
| 附录一 (4.21)式的证明 | 第72-74页 |
| 附录二 Lim模型与统计理论矛盾之处 | 第74-75页 |
| 附录三 (5.25)式是随机变量的累积分布函数 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 论文独创性声阳 | 第84页 |
