| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-11页 |
| 1．1 课题背景： | 第7-8页 |
| 1．2 ”NTN”校准技术的国内外研究现状 | 第8-9页 |
| 1．2．1 国外研究情况 | 第8页 |
| 1．2．2 国内研究情况 | 第8-9页 |
| 1．3 课题来源及意义 | 第9页 |
| 1．3．1 课题来源 | 第9页 |
| 1．3．2 意义 | 第9页 |
| 1．4 主要研究内容 | 第9-11页 |
| 第2章 ”NOSE-TO-NOSE”校准技术概述 | 第11-21页 |
| 2．1 关于取样示波器 | 第11-13页 |
| 2．1．1 取样原理 | 第11-12页 |
| 2．1．2 取样示波器的几个主要的参数 | 第12页 |
| 2．1．3 取样示波器校准的任务 | 第12-13页 |
| 2．2 传统的取样示波器校准方法及其弊端 | 第13-15页 |
| 2．2．1 详尽模型法 | 第14页 |
| 2．2．2 扫频源法（频域法） | 第14页 |
| 2．2．3 标准脉冲法 | 第14-15页 |
| 2．3 ”NOSE-TO-NOSE”方法 | 第15-20页 |
| 2．3．1 基本思想 | 第15-17页 |
| 2．3．2 ”kick-out”脉冲的分离 | 第17-20页 |
| 2．3．3 ”NTN”技术的优势 | 第20页 |
| 2．4 小结 | 第20-21页 |
| 第3章 单台取样示波器的仿真研究 | 第21-47页 |
| 3．1 单台取样示波器中的关键参数的研究 | 第22-42页 |
| 3．1．1 偏置电压的作用 | 第23-34页 |
| 3．1．2 选通脉冲的作用 | 第34-37页 |
| 3．1．3 二极管结电容非线性参数对”kick-out”脉冲的影响 | 第37-38页 |
| 3．1．4 取样电路中的电阻和保持电容的影响 | 第38-42页 |
| 3．2 单台取样示波器中关键部分对称性的研究 | 第42-45页 |
| 3．2．1 选通脉冲不对称的研究 | 第42-44页 |
| 3．2．2 R、C电路参数的不对称对”kick-out”脉冲的影响 | 第44-45页 |
| 3．3 小结 | 第45-47页 |
| 第4章 ”NOSE-TO-NOSE”对接的计算机仿真研究 | 第47-54页 |
| 4．1 对接的电路图 | 第47-50页 |
| 4．1．1 实际的对接电路图 | 第47-48页 |
| 4．1．2 传输线的基本理论和阻抗匹配 | 第48-50页 |
| 4．2 ”KICK-OUT”脉冲的响应波形 | 第50-53页 |
| 4．2．1 取样示波器工作的过程 | 第50-51页 |
| 4．2．2 一点说明 | 第51-52页 |
| 4．2．3 ”kick-out”脉冲的响应 | 第52-53页 |
| 4．3 本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 物理实验系统 | 第54-74页 |
| 5．1 ”NTN”实验 | 第54-63页 |
| 5．1．1 数据获取 | 第54-58页 |
| 5．1．2 数据处理 | 第58-63页 |
| 5．1．3 小结 | 第63页 |
| 5．2 ”NTN”数据预处理 | 第63-67页 |
| 5．2．1 由选通脉冲泄漏引入的噪声的去除 | 第64页 |
| 5．2．2 补偿由取样脉冲的时基抖动带来的误差 | 第64-66页 |
| 5．2．3 去除由测量时的温度漂移带来的噪声 | 第66-67页 |
| 5．3 反卷积分离 | 第67-70页 |
| 5．3．1 反卷积的定义 | 第67-68页 |
| 5．3．2 反卷积滤波算法 | 第68-70页 |
| 5．4 完整的校准过程 | 第70-71页 |
| 5．5 实验中遇到的问题--关于不同的连接方式 | 第71-73页 |
| 5．6 小结 | 第73-74页 |
| 结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 附录1仿真工具介绍及详细参数设置 | 第79-85页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
