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主动抗振干涉技术中瞬态相位检测的研究

绪论第1-8页
 1 论文背景第6-7页
 2 本论文的主要工作第7-8页
第一章 抗振干涉技术的发展第8-12页
 1.1 抗振干涉技术的发展第8-12页
第二章 振动信号第12-18页
 2.1 振源的类型第12-13页
 2.2 干涉仪振动信号分析第13-16页
  2.2.1 带高频振动干涉条纹信号的分析第13-15页
  2.2.2 带低频振动的干涉条纹的分析第15-16页
 2.3 用干涉条纹信号细分的方法实现干涉仪的主动抗振第16-18页
第三章 干涉条纹相位细分原理第18-24页
 3.1 移相干涉术第18-21页
  3.1.1 干涉场的光强分布第18-19页
  3.1.2 移相干涉术的原理第19-21页
 3.2 相位细分调制法第21-24页
第四章 硬件系统第24-50页
 4.1 光电信号采集第24-25页
 4.2 方波信号发生器第25-26页
 4.3 相位细分调制第26-38页
  4.3.1 信号调制第26-27页
  4.3.2 加法器第27-28页
  4.3.3 带通滤波器第28-33页
  4.3.4 鉴零器第33-34页
  4.3.5 鉴相器第34-38页
   4.3.5.1 复杂可编程逻辑器件(CPLD)第34-35页
   4.3.5.2 CPLD鉴相模块第35-38页
 4.4 控制单元——可编程DSP第38-47页
  4.4.1 DSP系统的设计过程第39-40页
  4.4.2 TMS320VC5402第40-47页
   4.4.2.1 存储器第41-42页
   4.4.2.2 中央处理单元(CPU)第42-43页
   4.4.2.3 TMS320VC5402的自举加载第43-45页
   4.4.2.4 串行口与D/A转换第45-47页
 4.5 测量相位第47-50页
第五章 实验结果及其分析第50-57页
 5.1 系统信号的调试和结果第50-54页
  5.1.1 条纹间隔的调整第50-52页
  5.1.2 载波调制信号第52页
  5.1.3 加法器输出信号第52-53页
  5.1.4 带通滤波器提取的信号第53-54页
  5.1.5 鉴零器和鉴相器第54页
 5.2 条纹移动量测试第54-57页
第六章 全文小结第57-58页
 6.1 本文所做的工作及创新第57页
 6.2 有待提高的方面第57-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-61页
附录A 两10KHZ正交方波F0、F1产生电路第61-62页
附录B 相位调制细分电路第62-63页
附录C CPLD内部原理图第63-64页
附录D 测量部分电路原理图第64-65页
附录E 8051向DSP加载源程序流程图第65-66页
附录F 测量条纹移动量的DSP源程序第66-73页

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