| 第一章 序言 | 第1-12页 |
| §1.1 概述 | 第8-10页 |
| §1.2 本文的主要研究内容及论文结构 | 第10-12页 |
| 上篇：故障模拟 | 第12-56页 |
| 第二章 故障模拟方法综述 | 第12-27页 |
| §2.1 引言 | 第12-16页 |
| §2.2 传统的三种故障模拟方法 | 第16-17页 |
| §2.3 Hong方法 | 第17-18页 |
| §2.4 临界路径跟踪法 | 第18-21页 |
| §2.4.1 基本概念 | 第18-19页 |
| §2.4.2 扇出源的临界性确定 | 第19页 |
| §2.4.2 进一步的改进 | 第19-20页 |
| §2.4.3 临界路径跟踪法与其它故障模拟方法的比较及小结 | 第20-21页 |
| §2.5 平行码故障模拟及PPSFP故障模拟 | 第21页 |
| §2.6 近十年中较有代表性的平行码故障模拟方法 | 第21-26页 |
| §2.6.1 AntSch方法 | 第21-22页 |
| §2.6.2 Tulip方法 | 第22-23页 |
| §2.6.3 平行临界路径跟踪故障模拟 | 第23-24页 |
| §2.6.4 平行码Test-Detect故障模拟 | 第24页 |
| §2.6.5 Smith方法 | 第24-25页 |
| §2.6.6 基于扇出源的平行码跟踪法 | 第25页 |
| §2.6.7 FSIM方法 | 第25-26页 |
| §2.7 小结 | 第26-27页 |
| 第三章 基于临界路径跟踪的故障模拟方法研究 | 第27-49页 |
| §3.1 引言 | 第27-28页 |
| §3.2 电路结构的静态分析 | 第28-33页 |
| §3.3 故障模拟过程中的动态加速技术 | 第33-43页 |
| §3.4 各种加速技术的矛盾处理 | 第43-44页 |
| §3.5 程序实现中的加速技术 | 第44-45页 |
| §3.6 加速的平行码临界路径跟踪算法APPCPT的总体描述 | 第45页 |
| §3.7 小结 | 第45-49页 |
| 第四章 APPCPT故障模拟的实验结果及分析 | 第49-56页 |
| §4.1 随机码故障模拟 | 第49-51页 |
| §4.2 实验结果及分析 | 第51-56页 |
| 下篇：测试产生 | 第56-111页 |
| 第五章 测试产生方法综述 | 第56-72页 |
| §5.1 引言 | 第56-58页 |
| §5.2 较有代表性的测试产生方法 | 第58-71页 |
| §5.2.1 D算法、九值算法和主路径敏化法 | 第58-60页 |
| §5.2.2 PODEM算法和FAN算法 | 第60-61页 |
| §5.2.3 TOPS和SOCRATES | 第61-64页 |
| §5.2.4 CONT、RAPS、SMART和FAST | 第64-71页 |
| §5.3 小结 | 第71-72页 |
| 第六章 基于临界路径跟踪的测试产生方法研究 | 第72-99页 |
| §6.1 引言 | 第72-73页 |
| §6.2 临界路径跟踪测试产生的基本思想、概念及方法 | 第73-78页 |
| §6.3 算法的搜索策略、总体描述及框图 | 第78-86页 |
| §6.4 扇出源的临界性确定 | 第86-89页 |
| §6.5 测试产生过程中的若干加速技术 | 第89-94页 |
| §6.6 测试产生的一个简单实例 | 第94-97页 |
| §6.7 小结 | 第97-99页 |
| 第七章 测试产生算法CPTTG的实验结果及分析 | 第99-107页 |
| §7.1 CPTTG的实验结果 | 第99-104页 |
| §7.2 回溯干扰控制技术的实验分析 | 第104-107页 |
| 第八章 结束语 | 第107-111页 |
| 参考文献 | 第111-121页 |
| 攻读博士期间发表和录用的文章 | 第121-122页 |
| 作者简历 | 第122页 |
