USB测控系统中高精度数字锁相环的设计与实现
摘要 | 第1-11页 |
ABSTRACT | 第11-12页 |
第一章 绪论 | 第12-19页 |
·课题应用背景 | 第12页 |
·USB测控原理 | 第12-18页 |
·侧音测距 | 第13-17页 |
·多普勒测速 | 第17-18页 |
·本文主要工作 | 第18-19页 |
第二章 基于二次混频的高精度数字锁相环 | 第19-34页 |
·锁相环组成及工作原理 | 第19-27页 |
·锁相环组成及原理 | 第19-22页 |
·数字锁相环 | 第22-27页 |
·高精度数字锁相环设计与仿真 | 第27-34页 |
·环路设计 | 第27-29页 |
·环路性能Matlab仿真分析 | 第29-32页 |
·测距测速精度分析 | 第32-34页 |
第三章 FPGA设计与实现 | 第34-50页 |
·开发环境说明 | 第36-39页 |
·VHDL语言 | 第36页 |
·Xilinx专用开发环境ISE | 第36-37页 |
·仿真工具ModelSim | 第37页 |
·综合工具Synplify | 第37-38页 |
·调试工具ChipScope | 第38-39页 |
·功能模块设计 | 第39-48页 |
·锁相环部分 | 第39-47页 |
·时钟单元 | 第47页 |
·峰值检测模块 | 第47页 |
·ModelSim仿真 | 第47-48页 |
·硬件调试 | 第48-49页 |
·DDC模块调试 | 第48页 |
·锁相环路 | 第48-49页 |
·系统顶层原理图 | 第49-50页 |
第四章 接收机硬件设计与系统联调 | 第50-66页 |
·总体设计 | 第50-56页 |
·关键芯片选型 | 第51-53页 |
·配置说明 | 第53-56页 |
·电磁兼容设计 | 第56-58页 |
·电磁兼容设计统一要求 | 第56-57页 |
·高速FPGA设计的特殊考虑 | 第57-58页 |
·硬件调试分析 | 第58-59页 |
·硬件调试的方法 | 第58-59页 |
·硬件调试结果分析 | 第59页 |
·系统调试 | 第59-66页 |
·ChipScope实时分析 | 第61-62页 |
·测速性能测试 | 第62-63页 |
·测距性能测试 | 第63页 |
·测距功能模拟 | 第63-66页 |
第五章 结束语 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-70页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第70-71页 |
附录A USB测控系统相关实物图 | 第71-72页 |