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液晶驱动芯片测试程序开发及优化方法研究

目录第1-3页
摘要第3-4页
Abstract第4-5页
第一章 绪论第5-13页
   ·课题背景和意义第5-7页
   ·发展及研究现状第7-9页
   ·研究内容第9-12页
   ·论文结构第12-13页
第二章 TFTLCD驱动芯片概况与测试项目介绍第13-20页
   ·什么是液晶第13-14页
   ·液晶面板驱动方式第14-17页
   ·几种常见的液晶驱动芯片介绍第17-20页
第三章 液晶驱动芯片的测试需求和测试方法第20-40页
   ·各类芯片的逻辑结构和技术特点第20-28页
     ·芯片分类第20-22页
     ·芯片功能第22-24页
     ·技术指标第24-26页
     ·封装形式第26-28页
   ·液晶驱动芯片的测试方法第28-40页
     ·LCD Driver测试难点以及对测试系统的要求第28-30页
     ·液晶驱动IC测试项目和常用测试方法第30-40页
第四章 TFT-LCD驱动芯片测试程序开发和优化第40-74页
   ·如何了解芯片的规格以及技术指标第40页
   ·如何选择适当的测试系统第40-46页
     ·硬件资源介绍第40-45页
     ·软件环境第45-46页
   ·Yokogawa TDL测试程序开发第46-52页
   ·探针卡制作第52-54页
   ·测试程序调试第54-62页
   ·测试程序优化方案*第62-74页
第五章 归纳与小结第74-75页
参考文献第75-77页
致谢第77-78页

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