中文摘要 | 第1-9页 |
ABSTRACT | 第9-13页 |
第1章 绪 论 | 第13-31页 |
·随机表面的形貌特征及其统计特性 | 第14-20页 |
·随机表面的一阶统计函数 | 第14-16页 |
·随机表面的二阶统计函数 | 第16-20页 |
·随机表面的主要测量方法 | 第20-28页 |
·接触式测量法 | 第21-25页 |
·非接触式测量法 | 第25-28页 |
·本文的研究目的和主要内容 | 第28-31页 |
第2章 基尔霍夫散射理论及随机表面参量计算原理 | 第31-45页 |
·随机表面光散射的基尔霍夫理论 | 第31-35页 |
·高斯相关随机表面的散射理论及统计参量计算 | 第35-38页 |
·自仿射分形随机表面的散射理论及统计参量计算 | 第38-45页 |
·自仿射分形随机表面的散射轮廓函数的近似计算 | 第40-42页 |
·从散射轮廓函数中确定自仿射分形随机表面参量 | 第42-45页 |
第3章 随机表面的形貌特征及统计特性的AFM 研究 | 第45-65页 |
·原子力显微镜的基本成像原理 | 第45-47页 |
·高斯相关随机表面的形貌特征及统计特性 | 第47-52页 |
·高斯相关随机表面的样品制备和表面形貌的AFM 测量 | 第47-48页 |
·高斯相关随机表面的统计参量和自相关函数计算 | 第48-52页 |
·自仿射分形表面的形貌特征及统计特性 | 第52-57页 |
·自仿射分形表面的样品制备和表面形貌的AFM 测量 | 第52-56页 |
·自仿射分形表面的统计参量和自相关函数计算 | 第56-57页 |
·弱散射体表面的形貌特征及统计特性 | 第57-63页 |
·弱散射体表面样品的制备和表面形貌的AFM 测量 | 第57-59页 |
·弱散射体表面的统计参量和自相关函数计算 | 第59-63页 |
·本章结论 | 第63-65页 |
第4章 自仿射分形随机表面的光散射特性实验研究 | 第65-83页 |
·自仿射分形随机表面的实验测量 | 第65-68页 |
·实验结果 | 第68-79页 |
·AFM 测量及表面形貌特征 | 第68-72页 |
·自仿射分形随机表面的光散射特性实验 | 第72-79页 |
·结果分析与讨论 | 第79-82页 |
·理论分析 | 第79-80页 |
·提取样品表面统计参量 | 第80-82页 |
·本章结论 | 第82-83页 |
第5章 基于散射光强轮廓函数提取自仿射分形表面参量的LEVENBERG-MARQUARDT 算法 | 第83-99页 |
·理论分析与计算方法 | 第84-91页 |
·散射光强轮廓函数与随机表面参量关系的理论推导 | 第84-87页 |
·基于L-M 算法提取自仿射分形表面参量的理论推导 | 第87-91页 |
·实验测量与结果讨论 | 第91-97页 |
·自仿射分形表面的AFM 测量 | 第91-93页 |
·散射光强轮廓函数的实验测量及表面参量提取 | 第93-97页 |
·本章结论 | 第97-99页 |
第6章 总结与展望 | 第99-103页 |
·总结 | 第99-101页 |
·展望 | 第101-103页 |
参考文献 | 第103-119页 |
攻读博士期间主要科研成果 | 第119-121页 |
致谢 | 第121-122页 |