多层螺旋CT探测与数据采集系统研究
中文摘要 | 第1-4页 |
英文摘要 | 第4-9页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
·选题背景及意义 | 第9-11页 |
·选题的背景 | 第9-10页 |
·研究意义 | 第10-11页 |
·国内外现状 | 第11-16页 |
·工业CT 设备研究现状 | 第11-12页 |
·安检设备研究现状 | 第12-16页 |
·本文的研究内容 | 第16-17页 |
2 工业CT 的基本原理 | 第17-29页 |
·CT 检测原理 | 第17-20页 |
·X 射线与物质的相互作用 | 第17-19页 |
·CT 检测基本原理 | 第19-20页 |
·工业X-CT 的系统组成 | 第20-23页 |
·工业X-CT 扫描方式的发展历程 | 第23-26页 |
·第一代CT 扫描方式 | 第23-24页 |
·第二代CT 扫描方式 | 第24-25页 |
·第三代CT 扫描方式 | 第25页 |
·第四代CT 扫描方式 | 第25-26页 |
·螺旋CT 扫描技术 | 第26-29页 |
·螺旋扫描 | 第27页 |
·多层螺旋扫描 | 第27-29页 |
3 系统方案及硬件设计 | 第29-49页 |
·探测器剖析 | 第29-32页 |
·气体探测器 | 第29-30页 |
·固体探测器 | 第30-31页 |
·探测器比较 | 第31-32页 |
·探测系统结构设计 | 第32-33页 |
·数据采集方案设计 | 第33-35页 |
·数据采集系统总体方案 | 第33-34页 |
·关键器件选型 | 第34-35页 |
·模数转换分析 | 第35-42页 |
·积分放大原理 | 第35-36页 |
·A/D 转换 | 第36-37页 |
·DDC232 介绍 | 第37-42页 |
·系统硬件设计 | 第42-49页 |
·信号探测模块设计 | 第42-45页 |
·数据采集模块设计 | 第45-49页 |
4 数据采集系统数字逻辑设计 | 第49-66页 |
·开发流程及方法 | 第49-51页 |
·FPGA 逻辑软件框架 | 第51-52页 |
·时钟控制电路 | 第52-53页 |
·I2C 通讯模块 | 第53-55页 |
·命令解释模块 | 第55-57页 |
·DDC232 配置模块 | 第57-61页 |
·采样控制和存储模块 | 第61-63页 |
·数据发送模块 | 第63-66页 |
5 系统调试 | 第66-71页 |
·硬件调试 | 第66-67页 |
·软件调试 | 第67-69页 |
·测试结果 | 第69-71页 |
6 总结与展望 | 第71-73页 |
·论文总结 | 第71页 |
·项目展望 | 第71-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
附录 | 第76页 |