| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·与本课题相关的研究状况 | 第11-13页 |
| ·本文研究的主要内容与思路 | 第13-16页 |
| 第二章 射线成像检测技术基础 | 第16-32页 |
| ·无损检测的射线种类 | 第16-17页 |
| ·X射线的产生及其特点 | 第17-21页 |
| ·低能X射线的产生及特点 | 第17-20页 |
| ·微束斑X射线源 | 第20-21页 |
| ·射线与物质的相互作用 | 第21-26页 |
| ·光电效应 | 第21-22页 |
| ·康普顿效应 | 第22-23页 |
| ·电子对效应 | 第23-24页 |
| ·瑞利散射 | 第24页 |
| ·各种相互作用发生的相对几率 | 第24-26页 |
| ·X射线透射物质的衰减规律 | 第26-31页 |
| ·窄束、单色射线的强度衰减规律 | 第26-28页 |
| ·宽束、多色射线的强度衰减规律 | 第28-31页 |
| ·常用辐射物理量及其单位 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 X射线数字化成像技术 | 第32-58页 |
| ·射线胶片成像技术与数字化成像技术概述 | 第32-33页 |
| ·射线胶片成像技术简介 | 第32页 |
| ·射线实时成像技术简介 | 第32页 |
| ·射线数字化成像技术简介 | 第32-33页 |
| ·X射线荧光透视成像技术 | 第33页 |
| ·基于一代X射线图像增强器(Ⅻ)的射线成像系统 | 第33-37页 |
| ·一代X射线图像增强器(X-ray image intensifier) | 第34-35页 |
| ·一代X射线图像增强器的性能参数 | 第35-37页 |
| ·线阵探测器扫描成像系统 | 第37-42页 |
| ·LDA的组成结构 | 第39-40页 |
| ·LDA的性能参数 | 第40-41页 |
| ·特点与应用 | 第41-42页 |
| ·基于光纤耦合CCD的射线成像系统 | 第42-43页 |
| ·基于光纤闪烁体的耦合CCD射线成像系统 | 第42页 |
| ·基于像增强器的光纤耦合CCD射线成像系统 | 第42-43页 |
| ·X射线平板探测器数字成像系统 | 第43-49页 |
| ·平板探测器的成像原理 | 第44-45页 |
| ·平板探测器的内部构造 | 第45-46页 |
| ·X射线平板探测器数字成像系统的组成 | 第46-47页 |
| ·平板探测器的应用前景 | 第47-49页 |
| ·X射线实时成像系统性能评价方法 | 第49-57页 |
| ·评价方法概述 | 第49-50页 |
| ·图像清晰度 | 第50-54页 |
| ·透度灵敏度 | 第54-55页 |
| ·图像调制传递函数 | 第55-56页 |
| ·射线实时成像检测系统分辨率及设备的选用原则 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 基于MCP-X射线像增强器的电子工业X射线检测机的研制 | 第58-92页 |
| ·电子工业X射线检测的特点与要求 | 第58页 |
| ·电子工业X射线检测机的设计思路与总体方案 | 第58-62页 |
| ·X射线检测机的研制思路 | 第58-59页 |
| ·X射线检测机的总体方案 | 第59-61页 |
| ·X射线检测机的主要性能指标要求 | 第61-62页 |
| ·电子工业X射线检测系统的硬件设计 | 第62-86页 |
| ·X射线源的选择 | 第62-66页 |
| ·X射线像增强器的选择 | 第66-73页 |
| ·光学镜头与工业相机的选择 | 第73-77页 |
| ·显示器分辨率要求 | 第77页 |
| ·系统分辨率理论分析 | 第77-85页 |
| ·X射线检测机系统控制台 | 第85-86页 |
| ·电子工业X射线检测系统的软件设计 | 第86-89页 |
| ·软件功能 | 第86-87页 |
| ·软件开发环境 | 第87-88页 |
| ·软件结构 | 第88页 |
| ·多线程的设计方案 | 第88-89页 |
| ·本章小结 | 第89-92页 |
| 第五章 电子工业用X射线检测机中影响成像质量因素分析及校正 | 第92-132页 |
| ·概述 | 第92-93页 |
| ·基于MCP-X射线像增强器的三维噪声测量及其分析 | 第93-101页 |
| ·三维噪声的测量模型 | 第93-96页 |
| ·三维噪声测量系统 | 第96页 |
| ·三维噪声测量及分析 | 第96-101页 |
| ·MCP-X射线像增强器产生噪声成因分析 | 第101-103页 |
| ·光电阴极对射线响应的固有不一致性 | 第101-102页 |
| ·微通道板增益的不一致性 | 第102页 |
| ·荧光屏对入射电子响应的固有不一致性 | 第102-103页 |
| ·CMOS工业相机产生噪声成因分析 | 第103-105页 |
| ·CMOS图像传感器中的暗噪声 | 第103-104页 |
| ·CMOS图像传感器像元光响应不均匀性 | 第104页 |
| ·透射的X射线脉冲噪声对CMOS图像传感器成像的影响 | 第104-105页 |
| ·系统成像中图像随机噪声的校正 | 第105-117页 |
| ·帧积分法去除射线图像中的随机噪声 | 第106-109页 |
| ·工程化中帧积分算法的改进 | 第109-117页 |
| ·系统成像中固有不均匀噪声的校正 | 第117-126页 |
| ·系统成像数学模型的建立 | 第118-121页 |
| ·基于曲面拟合的不均匀性校正算法 | 第121-125页 |
| ·系统固有不均匀性噪声校正实例 | 第125-126页 |
| ·针对射线图像特点的灰度值调整 | 第126-130页 |
| ·原理样机的性能指标 | 第130-131页 |
| ·本章小结 | 第131-132页 |
| 第六章 结束语 | 第132-136页 |
| ·本论文的主要研究成果 | 第132-133页 |
| ·本论文的创新之处 | 第133-134页 |
| ·本文的不足之处和需要进一步研究的工作 | 第134页 |
| ·总结 | 第134-136页 |
| 致谢 | 第136-138页 |
| 参考文献 | 第138-146页 |
| 攻读博士期间发表或已录用的论文 | 第146页 |
| 已申请专利 | 第146-148页 |
| 附录1 | 第148-153页 |
| 附录2 | 第153-154页 |
