| 中文摘要 | 第3-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究的背景与意义 | 第9-12页 |
| 1.2 国内外研究的发展概况 | 第12-16页 |
| 1.2.1 国外研究的发展概况 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国内研究的发展概况 | 第13-16页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第二章 内损耗因子试验理论 | 第17-23页 |
| 2.1 内损耗因子基本概述 | 第17-18页 |
| 2.2 瞬态衰减法试验理论 | 第18-22页 |
| 2.2.1 Hilbert变化基本理论 | 第18-20页 |
| 2.2.2 Hilbert变换构造解析信号 | 第20页 |
| 2.2.3 瞬态衰减法测内损耗因子试验理论 | 第20-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 模态密度试验理论 | 第23-29页 |
| 3.1 模态密度基本概述 | 第23-24页 |
| 3.2 点导纳试验理论 | 第24-26页 |
| 3.3 模态密度试验理论 | 第26-28页 |
| 3.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 耦合损耗因子试验理论 | 第29-35页 |
| 4.1 耦合损耗因子概述 | 第29-30页 |
| 4.2 均值导纳法试验理论 | 第30页 |
| 4.3 瞬态激励耦合损耗因子试验理论 | 第30-32页 |
| 4.4 本章小结 | 第32-35页 |
| 第五章 耦合损耗因子试验测量 | 第35-49页 |
| 5.1 子系统内损耗因子试验测量 | 第35-42页 |
| 5.1.1 子系统内损耗因子试验测量概述 | 第35-36页 |
| 5.1.2 子系统内损耗因子试验测量方案及平台 | 第36-39页 |
| 5.1.3 子系统内损耗因子试验测量过程 | 第39-42页 |
| 5.1.4 子系统内损耗因子试验测量结果及分析 | 第42页 |
| 5.2 耦合系统总损耗因子试验测量 | 第42-44页 |
| 5.2.1 子系统总损耗因子试验测量过程及关键点 | 第42-43页 |
| 5.2.2 子系统总损耗因子试验测量结果及分析 | 第43-44页 |
| 5.3 耦合系统耦合损耗因子试验推导 | 第44-47页 |
| 5.3.1 子系统均值导纳试验测量过程及关键点 | 第44页 |
| 5.3.2 子系统均值导纳理论及试验测量结果及分析 | 第44-46页 |
| 5.3.3 耦合损耗因子理论及试验推导结果及分析 | 第46-47页 |
| 5.4 本章小结 | 第47-49页 |
| 第六章 工作总结与展望 | 第49-51页 |
| 6.1 工作总结 | 第49-50页 |
| 6.2 工作展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 攻读硕士期间发表学术论文 | 第59页 |