基于关联选择策略的容错电路设计方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第10-14页 |
| 1.2.1 演化硬件技术 | 第10-11页 |
| 1.2.2 进化算法 | 第11-12页 |
| 1.2.3 容错技术 | 第12-14页 |
| 1.3 研究内容与结构安排 | 第14-17页 |
| 第2章 演化硬件及电路进化模型 | 第17-27页 |
| 2.1 演化硬件概述 | 第17-18页 |
| 2.2 电路进化工作原理 | 第18-20页 |
| 2.3 演化电路模型构建 | 第20-25页 |
| 2.3.1 演化电路模型 | 第20-22页 |
| 2.3.2 编码方案 | 第22-23页 |
| 2.3.3 冗余容错结构 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-27页 |
| 第3章 容错电路进化算法设计 | 第27-39页 |
| 3.1 进化算法概述 | 第27-28页 |
| 3.2 遗传算法实现方法 | 第28-30页 |
| 3.3 引入演化效率因子的适应度评估方案 | 第30-33页 |
| 3.3.1 演化电路分析 | 第30-31页 |
| 3.3.2 演化效率因子设计 | 第31-33页 |
| 3.4 选择策略设计 | 第33-35页 |
| 3.4.1 选择方法概述 | 第33-34页 |
| 3.4.2 选择压力设计方法 | 第34-35页 |
| 3.5 实验结果及分析 | 第35-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 基于关联选择策略的异构冗余电路设计 | 第39-51页 |
| 4.1 关联方法概述 | 第39-40页 |
| 4.2 异构电路评估方案设计 | 第40-46页 |
| 4.2.1 异构电路影响因素分析 | 第41-44页 |
| 4.2.2 影响因素关联分析设计 | 第44-46页 |
| 4.2.3 电路异构选择方法设计 | 第46页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第46-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 引入故障模型的演化电路容错仿真实验 | 第51-63页 |
| 5.1 故障模型的建立 | 第51-54页 |
| 5.1.1 分析故障原因 | 第51-52页 |
| 5.1.2 建立故障模型 | 第52-54页 |
| 5.2 电路系统容错仿真实验 | 第54-58页 |
| 5.2.1 SA故障仿真 | 第54-55页 |
| 5.2.2 桥接故障仿真 | 第55-57页 |
| 5.2.3 参数漂移故障仿真 | 第57-58页 |
| 5.3 故障电路修复实验 | 第58-61页 |
| 5.3.1 修复原理与设计 | 第58-60页 |
| 5.3.2 实验结果与分析 | 第60-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 结论 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-71页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
