摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
注释表 | 第13-14页 |
缩略词 | 第14-15页 |
第一章 绪论 | 第15-19页 |
1.1 选题依据 | 第15页 |
1.2 工业元素在线检测的方法和研究现状 | 第15-16页 |
1.2.1 激光诱导击穿光谱 | 第15-16页 |
1.2.2 瞬发伽马中子活化分析 | 第16页 |
1.2.3 能量色散X射线荧光光谱 | 第16页 |
1.3 EDXRF能谱解析技术的研究发展 | 第16-17页 |
1.4 研究意义和内容 | 第17-19页 |
1.4.1 研究意义 | 第17页 |
1.4.2 研究内容 | 第17-19页 |
第二章 能量色散X射线荧光分析基本原理 | 第19-23页 |
2.1 X射线荧光定性分析基础 | 第19页 |
2.2 X射线荧光定量分析基础 | 第19-23页 |
2.2.1 理论荧光强度 | 第19-21页 |
2.2.2 基体效应 | 第21-22页 |
2.2.3 基体效应校正方法 | 第22-23页 |
第三章 基于信号处理方法的在线EDXRF光谱的降噪方法 | 第23-35页 |
3.1 仪器和样品 | 第23-25页 |
3.1.1 仪器参数 | 第23-24页 |
3.1.2 测试样品 | 第24-25页 |
3.2 能谱降噪的评价标准 | 第25页 |
3.3 基于卡尔曼滤波器和EM算法的EDXRF降噪方法 | 第25-29页 |
3.3.1 卡尔曼滤波器和EM算法 | 第25-27页 |
3.3.2 卡尔曼滤波器用于X射线荧光光谱降噪的效果 | 第27-29页 |
3.4 基于小波分析的EDXRF降噪方法 | 第29-34页 |
3.4.1 小波分析的基础理论 | 第29-32页 |
3.4.2 小波变换降噪处理方法和结果 | 第32-34页 |
3.5 本章总结 | 第34-35页 |
第四章 在线X射线荧光光谱的基线校正方法 | 第35-45页 |
4.1 用于基线评价的EDXRF光谱的模拟谱 | 第35-36页 |
4.2 基于小波分析的EDXRF基线校正方法 | 第36-38页 |
4.2.1 基于频域分析的基线校正的理论基础 | 第36-37页 |
4.2.2 小波分析用于基线校正的效果 | 第37-38页 |
4.3 基于加权剥峰最小二乘的EDXRF基线估计方法 | 第38-42页 |
4.3.1 多元线性回归介绍 | 第38-40页 |
4.3.2 基于加权剥峰最小二乘的基线估计 | 第40-42页 |
4.4 实际谱线的基线估计结果 | 第42-44页 |
4.5 本章总结 | 第44-45页 |
第五章 在线X射线荧光光谱的定量分析建模方法 | 第45-69页 |
5.1 建模数据整理 | 第45-46页 |
5.1.1 补充模拟数据 | 第45-46页 |
5.1.2 构建在线EDXRF数据集 | 第46页 |
5.2 最小二乘及其相关回归方法基础 | 第46-49页 |
5.2.1 主成分回归 | 第46-47页 |
5.2.2 偏最小二乘回归 | 第47-49页 |
5.3 在线EDXRF定量分析的全谱多元线性回归模型 | 第49-55页 |
5.3.1 应用普通最小二乘方法的建模结果 | 第49-52页 |
5.3.2 应用偏最小二乘回归方法的建模效果 | 第52-55页 |
5.4 基于随机森林的EDXRF定量分析方法的基础 | 第55-58页 |
5.4.1 决策树与集成学习的基础理论 | 第55-58页 |
5.5 基于随机森林模型的EDXRF定量分析建模结果 | 第58-65页 |
5.5.1 随机森林模型参数的选定 | 第58-64页 |
5.5.2 随机森林定量分析模型的分析 | 第64-65页 |
5.6 随机森林特征选择和多元线性回归模型的结合 | 第65-67页 |
5.7 本章总结 | 第67-69页 |
第六章 总结和展望 | 第69-71页 |
6.1 总结 | 第69-70页 |
6.2 展望 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第77页 |