基于光学干涉投影的三维形貌测量
摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5页 |
引言 | 第8-9页 |
第1章 绪论 | 第9-19页 |
1.1 三维形貌测量技术概述 | 第9-12页 |
1.1.1 接触式测量 | 第9-10页 |
1.1.2 非接触式测量 | 第10-12页 |
1.2 相位测量法 | 第12-16页 |
1.2.1 傅里叶变换轮廓术 | 第13-15页 |
1.2.2 相移轮廓术 | 第15-16页 |
1.3 课题研究意义、研究内容 | 第16-18页 |
1.3.1 课题研究意义 | 第16-17页 |
1.3.2 课题研究内容 | 第17-18页 |
1.4 本章小结 | 第18-19页 |
第2章 平行光干涉投影三维形貌测量系统 | 第19-26页 |
2.1 传统光学三维形貌测量系统 | 第19-22页 |
2.2 平行光干涉投影下的欠约束模型 | 第22-24页 |
2.3 系统标定 | 第24-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-26页 |
第3章 平行光波阵面调制下的双频解包裹 | 第26-36页 |
3.1 相位解包裹原理 | 第26-30页 |
3.1.1 空间相位解包裹 | 第28-29页 |
3.1.2 时间相位解包裹 | 第29-30页 |
3.2 双频外差解包裹原理 | 第30页 |
3.3 相控阵调节光束偏转 | 第30-32页 |
3.4 波阵面调制下的双频投影 | 第32-35页 |
3.5 本章小结 | 第35-36页 |
第4章 相机标定 | 第36-45页 |
4.1 相机成像模型 | 第36-38页 |
4.2 相机畸变 | 第38-40页 |
4.3 相机标定方法 | 第40-44页 |
4.3.1 传统相机标定方法 | 第40-41页 |
4.3.2 相机自标定方法 | 第41-42页 |
4.3.3 张正友标定 | 第42-44页 |
4.4 本章小结 | 第44-45页 |
第5章 实验 | 第45-56页 |
5.1 平行光干涉投影下还原物体三维形貌 | 第45-48页 |
5.1.1 平行光干涉条纹投射系统结构 | 第45-46页 |
5.1.2 实验过程 | 第46-48页 |
5.1.3 实验分析 | 第48页 |
5.2 波阵面调制下的双频解包裹 | 第48-50页 |
5.2.1 波阵面调制下的投射系统 | 第48-49页 |
5.2.2 条纹图采集处理 | 第49-50页 |
5.2.3 实验分析 | 第50页 |
5.3 相机标定 | 第50-54页 |
5.3.1 相机标定过程 | 第51-53页 |
5.3.2 相机标定后的双频相位解包裹 | 第53-54页 |
5.4 本章小结 | 第54-56页 |
结论 | 第56-58页 |
参考文献 | 第58-62页 |
致谢 | 第62-63页 |
导师简介 | 第63-64页 |
作者简介 | 第64-65页 |
学位论文数据集 | 第65页 |